Procedimiento para analizar la estructura de un objeto eléctricamente conductor.
Procedimiento para analizar la estructura de un objeto eléctricamente conductor,
comprendiendo el procedimiento las etapas siguientes:
(i) obtener unos datos de impedancia eléctrica para el objeto sobre un intervalo de frecuencias;
(ii) analizar los datos de impedancia eléctrica obtenidos usando una función de transferencia de un modelo eléctrico adoptado para determinar una pluralidad de propiedades de impedancia eléctrica para el objeto; y
(iii) formar imágenes de uno o más valores en función de una o más de entre la pluralidad de propiedades determinadas de impedancia eléctrica para el objeto.
Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/GB2008/001982.
Solicitante: Wang, Wei.
Inventor/es: WANG, WEI.
Fecha de Publicación: .
Clasificación Internacional de Patentes:
- A61B5/053 NECESIDADES CORRIENTES DE LA VIDA. › A61 CIENCIAS MEDICAS O VETERINARIAS; HIGIENE. › A61B DIAGNOSTICO; CIRUGIA; IDENTIFICACION (análisis de material biológico G01N, p.ej. G01N 33/48). › A61B 5/00 Medidas encaminadas a establecer un diagnóstico (diagnóstico por medio de radiaciones A61B 6/00; diagnóstico por ondas ultrasónicas, sónicas o infrasónicas A61B 8/00 ); Identificación de individuos. › Medida de la impedancia o de la conductancia eléctrica de una zona corporal.
PDF original: ES-2648227_T3.pdf
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