Procedimiento y dispositivo de detección de arcos eléctricos para instalaciones eléctricas con fuente de corriente continua.
Procedimiento de detección de arcos eléctricos para instalaciones eléctricas con fuente de corriente continua,
implementado por un dispositivo de detección que consta de un procesador de cálculo, dispuesto entre la fuente de corriente continua y una carga, caracterizado porque consta de las etapas de:
- obtención (40, 42) de una señal temporal digital a partir de la corriente eléctrica proporcionada por la fuente de corriente continua,
- para una pluralidad de intervalos de tiempo sucesivos de duración temporal predeterminada:
- extracción (44) de una señal secundaria temporal digital de dicha señal temporal digital que corresponde a un intervalo de tiempo corriente,
- aplicación (46) de un filtrado de paso de banda a dicha señal secundaria temporal digital,
- cálculo (50, 52) de un valor estadístico de orden cuatro de la señal secundaria temporal digital filtrada,
- comparación (54) del valor estadístico de orden cuatro calculado con un primer umbral estadístico y/o con un segundo umbral estadístico, y en el caso en el que el valor estadístico de orden cuatro sea inferior al primer umbral estadístico, o en el caso en el que el valor estadístico de orden cuatro sea superior al segundo umbral estadístico, memorización de una indicación de detección positiva para el intervalo de tiempo corriente,
- detección (60) de presencia de arco eléctrico cuando el número de indicaciones de detección positiva memorizadas sobrepase un umbral de detección predeterminado.
Tipo: Patente Europea. Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: E15175200.
Solicitante: SCHNEIDER ELECTRIC INDUSTRIES SAS.
Nacionalidad solicitante: Francia.
Dirección: 35 RUE JOSEPH MONIER 92500 RUEIL-MALMAISON FRANCIA.
Inventor/es: DJEDDI,MOUNIR.
Fecha de Publicación: .
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01R31/08 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01R MEDIDA DE VARIABLES ELECTRICAS; MEDIDA DE VARIABLES MAGNETICAS (indicación de la sintonización de circuitos resonantes H03J 3/12). › G01R 31/00 Dispositivos para ensayo de propiedades eléctricas; Dispositivos para la localización de fallos eléctricos; Disposiciones para el ensayo eléctrico caracterizadas por lo que se está ensayando, no previstos en otro lugar (ensayo o medida de dispositivos semiconductores o de estado sólido, durante la fabricación H01L 21/66; ensayo de los sistemas de transmisión por líneas H04B 3/46). › Localización de defectos en los cables, líneas de transmisión o redes.
- G01R31/12 G01R 31/00 […] › Ensayo de la rigidez dieléctrica o de la tensión de ruptura.
- H02H1/00 ELECTRICIDAD. › H02 PRODUCCION, CONVERSION O DISTRIBUCION DE LA ENERGIA ELECTRICA. › H02H CIRCUITOS DE PROTECCION DE SEGURIDAD (indicación o señalización de condiciones de trabajo indeseables G01R, p. ej. G01R 31/00, G08B; localización de defectos a lo largo de las líneas G01R 31/08; dispositivos de protección H01H). › Detalles de circuitos de protección de seguridad.
- H02H7/20 H02H […] › H02H 7/00 Circuitos de protección de seguridad especialmente adaptados para máquinas o aparatos eléctricos de tipos especiales o para la protección seccional de sistemas de cables o líneas, y efectuando una conmutación automática en el caso de un cambio indeseable de las condiciones normales de trabajo (asociación estructural de órganos de protección con máquinas o aparatos específicos y su protección sin desconexión automática, ver la subclase correspondiente a tales máquinas o aparatos). › para equipo electrónico (para convertidores H02H 7/10; para instrumentos de medida eléctricos G01R 1/36; para reguladores de tensión o de corriente continua con semiconductores G05F 1/569; para amplificadores H03F 1/52; para circuitos de conmutación electrónica H03K 17/08).
- H02S50/00 H02 […] › H02S GENERACIÓN DE ENERGÍA ELÉCTRICA MEDIANTE LA CONVERSIÓN DE LA RADIACIÓN INFRARROJA, LUZ VISIBLE O LUZ ULTRAVIOLETA, p. ej. UTILIZANDO MÓDULOS FOTOVOLTAICOS [FV] (obtención de energía eléctrica a partir de fuentes radiactivas G21H 1/12; dispositivos semiconductores inorgánicos sensibles a la luz H01L 31/00; dispositivos termoeléctricos H01L 35/00; dispositivos piroeléctricos H01L 37/00; dispositivos semiconductores orgánicos sensibles a la luz H01L 51/42). › Monitorización o ensayos de sistemas FV, p. ej equilibrio de carga o identificación de fallos.
PDF original: ES-2640396_T3.pdf
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