APARATO DE MEDIDA DE LA DIFUSIÓN SUPERFICIAL Y DEL ESPESOR NANOMÉTRICO DE METALES U ÓXIDOS METÁLICOS SOBRE SUSTRATOS VÍTREOS.

Aparato para la medida de difusiones o capas nanométricas superficiales de metales u óxidos metálicos sobre superficies de sustratos vitreos formado por un cabezal de medida que,

en contacto con la superficie del sustrato vitreo, emite una señal en condiciones de refracción total para el sustrato vitreo por lo que la señal reflejada y entregada al receptor es debida a las partículas, formen capa o no, presentes en la superficie del sustrato. Esta señal viene afectada por la luz ambiente que pueda llegar al receptor y por la temperatura de trabajo de los componentes electrónicos por lo que posteriormente es corregida por el programa adecuado contenido en el microprocesador.

Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/ES2013/070474.

Solicitante: FUESCA, S.L.

Nacionalidad solicitante: España.

Inventor/es: DE LA FUENTE ESCANDON,FERNANDO J., ESTÉVEZ QUINTANA,Alfonso C.

Fecha de Publicación: .

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G01B11/06 FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01B MEDIDA DE LA LONGITUD, ESPESOR O DIMENSIONES LINEALES ANALOGAS; MEDIDA DE ANGULOS; MEDIDA DE AREAS; MEDIDA DE IRREGULARIDADES DE SUPERFICIES O CONTORNOS.G01B 11/00 Disposiciones de medida caracterizadas por la utilización de medios ópticos (instrumentos de los tipos cubiertos por el grupo G01B 9/00 en sí G01B 9/00). › para la medida del espesor.
APARATO DE MEDIDA DE LA DIFUSIÓN SUPERFICIAL Y DEL ESPESOR NANOMÉTRICO DE METALES U ÓXIDOS METÁLICOS SOBRE SUSTRATOS VÍTREOS.

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