SISTEMA DE PRUEBAS EN UNA LINEA DE FABRICACION DE CIRCUITOS IMPRESOS, PARA LA REALIZACION AUTOMATICA DE PRUEBAS SOBRE LOS CIRCUITOS IMPRESOS.
Sistema de prueba para la realización automática de pruebas sobre circuitos impresos (1) en una línea de fabricación de circuitos impresos,
los mencionados circuitos impresos (1) incluyendo diferentes tipos de circuitos impresos que requieren diferentes pruebas, y el mencionado sistema de pruebas comprendiendo un aparato de pruebas (2) para llevar a cabo operaciones de prueba, y la mencionada línea de fabricación comprendiendo una primera banda transportadora (3) para suministrar horizontalmente circuitos impresos consecutivamente, a modo de fila, al aparato de prueba, caracterizado porque el sistema de prueba comprende: - un conjunto (I) de módulos de prueba (4), cada uno de los cuales comprende un aparato de prueba, cada uno de los mencionados módulos de prueba comprendiendo un transportador horizontal de módulo (5) para transportar un circuito impreso (1) dentro y fuera del módulo de prueba, los mencionados módulos de prueba estando dispuestos en relación de superposición mutua, y el conjunto (I) contiene módulos de prueba diferentes entre sí, de forma que las operaciones llevadas a cabo por estos módulos son diferentes entre sí; y - un dispositivo de alimentación (6) adaptado para recibir circuitos impresos procedentes de la primera banda transportadora (3), y para suministrarlos a los módulos de prueba (4).
Tipo: Resumen de patente/invención.
Solicitante: PMJ AUTOMEC OYJ.
Nacionalidad solicitante: Finlandia.
Dirección: MAKSJOENTIE 11,08700 VIRKKALA.
Inventor/es: SEPPILI,HANNU, KURPPA,PEKKA, TEERI,JARMO.
Fecha de Publicación: .
Fecha Concesión Europea: 20 de Febrero de 2008.
Clasificación PCT:
- G01R31/28 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01R MEDIDA DE VARIABLES ELECTRICAS; MEDIDA DE VARIABLES MAGNETICAS (indicación de la sintonización de circuitos resonantes H03J 3/12). › G01R 31/00 Dispositivos para ensayo de propiedades eléctricas; Dispositivos para la localización de fallos eléctricos; Disposiciones para el ensayo eléctrico caracterizadas por lo que se está ensayando, no previstos en otro lugar (ensayo o medida de dispositivos semiconductores o de estado sólido, durante la fabricación H01L 21/66; ensayo de los sistemas de transmisión por líneas H04B 3/46). › Ensayo de circuitos electrónicos, p. ej. con la ayuda de un trazador de señales (ensayo de computadores durante las operaciones de espera "standby" o los tiempos muertos G06F 11/22).
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