ESCANER OPTICO.
Unidad (100) de exploración que expone y explora un objeto de exploración emitiendo un haz de luz,
que comprende: una estructura (200) de unidad que tiene una sección (220) de base que tiene una abertura (223) y una pared periférica externa que rodea un reborde de la sección de base; un deflector (110) que se dispone sobre un lateral de superficie superior de la sección de base y desvía el haz de luz hacia la pared periférica externa; un primer elemento (130) óptico de reflexión; y un segundo elemento (131) óptico de reflexión que refleja el haz de luz, que se desplaza tras haberse reflejado por el primer elemento óptico de reflexión hacia el elemento fotosensible; en el que el ángulo entre el haz de luz que entra en el primer elemento óptico de reflexión y el haz de luz reflejado desde el primer elemento óptico de reflexión es un ángulo agudo; caracterizado porque: el primer elemento óptico de reflexión se dispone con la abertura que está interpuesta entre el primer elemento óptico de reflexión y el deflector y refleja el haz de luz, que se ha desviado por el deflector y se desplaza hacia la pared periférica externa, hacia una posición por debajo de la sección de base; el segundo elemento óptico de reflexión se dispone sobre un lateral de superficie inferior de la sección de base y refleja el haz de luz tras haber pasado a través de la abertura; y se satisface la desigualdad a < b, en la que "a" es la longitud de camino óptico desde una superficie de reflexión del deflector (110) hasta una superficie de reflexión del primer elemento (130) óptico de reflexión y "b" es otra longitud de camino óptico desde la superficie de reflexión del primer elemento (130) óptico de reflexión hasta una superficie de reflexión del segundo elemento (131) óptico de reflexión.
Tipo: Resumen de patente/invención.
Solicitante: BROTHER KOGYO KABUSHIKI KAISHA.
Nacionalidad solicitante: Japón.
Dirección: 15-1 NAESHIRO-CHO, MIZUHO-KU NAGOYA-SHI,,AICHI-KEN 467-8561.
Inventor/es: KATO,RYOTA BROTHER KOGYO K.K.,TECHN PLAN& IP DEP, MATSUURA,TAIZO BROTHER KOGYO K.K, SAKAI,TOSHIO BROTHER KOGYO K.K.
Fecha de Publicación: .
Fecha Solicitud PCT: 31 de Marzo de 2005.
Fecha Concesión Europea: 14 de Febrero de 2007.
Clasificación PCT:
- G02B26/10 FISICA. › G02 OPTICA. › G02B ELEMENTOS, SISTEMAS O APARATOS OPTICOS (G02F tiene prioridad; elementos ópticos especialmente adaptados para ser utilizados en los dispositivos o sistemas de iluminación F21V 1/00 - F21V 13/00; instrumentos de medida, ver la subclase correspondiente de G01, p. ej. telémetros ópticos G01C; ensayos de los elementos, sistemas o aparatos ópticos G01M 11/00; gafas G02C; aparatos o disposiciones para tomar fotografías, para proyectarlas o para verlas G03B; lentes acústicas G10K 11/30; "óptica" electrónica e iónica H01J; "óptica" de rayos X H01J, H05G 1/00; elementos ópticos combinados estructuralmente con tubos de descarga eléctrica H01J 5/16, H01J 29/89, H01J 37/22; "óptica" de microondas H01Q; combinación de elementos ópticos con receptores de televisión H04N 5/72; sistemas o disposiciones ópticas en los sistemas de televisión en colores H04N 9/00; disposiciones para la calefacción especialmente adaptadas a superficies transparentes o reflectoras H05B 3/84). › G02B 26/00 Dispositivos o sistemas ópticos que utilizan elementos ópticos móviles o deformables para controlar la intensidad, el color, la fase, la polarización o la dirección de la luz, p. ej. conmutación, apertura de puerta o modulación (elementos móviles de dispositivos de iluminación para el control de la luz F21V; dispositivos o sistemas especialmente adaptados para medir las características de la luz G01J; dispositivos o sistemas cuyo funcionamiento óptico se modifica por el cambio de las propiedades ópticas del medio que constituyen estos dispositivos o sistemas G02F 1/00; control de la luz en general G05D 25/00; control de las fuentes de luz H01S 3/10, H05B 39/00 - H05B 47/00). › Sistemas de barrido (para aplicaciones particulares, ver los lugares correspondientes, p. ej. G03B 27/32, G03F 3/08, G03G 15/04, G09G 3/00, H04N).
- G02B26/12 G02B 26/00 […] › que utilizan espejos de caras múltiples.
- G02B7/00 G02B […] › Monturas, medios de regulación o uniones estancas a la luz para elementos ópticos.
Países PCT: Austria, Bélgica, Suiza, Alemania, Dinamarca, España, Francia, Reino Unido, Grecia, Italia, Liechtensein, Luxemburgo, Países Bajos, Suecia, Mónaco, Portugal, Irlanda, Eslovenia, Finlandia, Rumania, Chipre, Lituania, Letonia, Ex República Yugoslava de Macedonia, Albania.
![ESCANER OPTICO.](https://patentados.com/img/2007/10/escaner-optico.jpg)
Patentes similares o relacionadas:
Aparato y método para inspeccionar materia, del 17 de Julio de 2019, de Tomra Sorting AS: Un aparato para inspeccionar materia , comprendiendo el aparato: un dispositivo emisor adaptado para emitir radiación; un elemento de detención […]
Escáner láser poligonal para la eliminación de revestimientos, del 3 de Julio de 2019, de Xyrec IP B.V: Sistema de escáner láser para eliminar un revestimiento de una superficie , que comprende: (a) al menos una fuente de láser, donde dicha al menos una fuente […]
Sistema de proyector de vídeo, del 7 de Noviembre de 2018, de RED.COM, LLC: Un proyector de vídeo incluyendo: una fuente de luz incluyendo una pluralidad de láseres que proporcionan al menos dos colores de luz diferentes incluyendo […]
Dispositivo láser, especialmente para la cirugía oftalmológica con láser, del 25 de Enero de 2017, de WAVELIGHT GMBH: Dispositivo láser, especialmente para la cirugía oftalmológica con láser, que comprende - una fuente de láser para la puesta a disposición de radiación láser, - […]
SISTEMA, MÉTODO Y PROGRAMA DE ORDENADOR PARA LA MEDIDA Y ANÁLISIS DE SEÑALES LUMINOSAS TEMPORALES, del 19 de Mayo de 2016, de UNIVERSITAT DE VALENCIA: El sistema está previsto para el análisis de señales luminosas pulsadas moduladas temporalmente según una frecuencia fe y comprende: […]
APARATO DE EXPLORACION PARA FORMAR IMAGENES EN EL DOMINIO ESPECTRAL DE LAS MICROONDAS, ONDAS MILIMETRICAS O LOS INFRARROJOS., del 16 de Mayo de 2007, de FARRAN TECHNOLOGY LIMITED: Aparato de exploración que puede funcionar en dominios de microondas, de ondas milimétricas y de infrarrojos, y que comprende una estructura de soporte , un […]
DISPOSITIVO PARA EL TRATAMIENTO DE UN SUSTRATO POR MEDIO DE RADIACION LASER., del 1 de Mayo de 2006, de MLT MICRO LASER TECHNOLOGY GMBH: Dispositivo para el tratamiento de un substrato por medio de radiación láser, con un espejo giratorio poligonal , a través del cual se refleja al […]
ESCANER DE SALIDA DE TRAMA E IMPRESORA., del 16 de Abril de 2006, de XEROX CORPORATION: Un dispositivo de escáner de salida de trama para un aparato de impresión, que comprende: una primera, una segunda, una tercera y una cuarta fuentes de láser […]