DISPOSITIVO MAGNETOMETRICO DE TECNOLOGIA PLANAR Y PROCESO DE FABRICACION.

DISPOSITIVO MAGNETOMETRICO DE TECNOLOGIA PLANAR Y PROCESO DE FABRICACION.

APLICABLE PARA OBTENER SENSORES MAGNETOMETRICOS DE TIPO NUCLEO-SATURADO (FLUX-GATE), TENIENDO POR OBJETO REDUCIR EL TAMAÑO DE LOS SENSORES Y PERMITIR LA INCLUSION EN SU ESTRUCTURA DE LA ELECTRONICA ASOCIADA. EL SENSOR CUENTA CON UNA CAPA O SUSTRATO (1) SOBRE EL QUE ESTAN SUPERPUESTAS POR SUS DOS CARAS SENDAS CAPAS CONDUCTORAS (2), QUE CONSTITUYEN BOBINAS PLANAS ESPIRALES, QUE A SU VEZ ESTAN CUBIERTAS POR UNA CAPA AISLANTE (3) A LA QUE SIGUE UNA CAPA CONDUCTORA (4), QUE CONSTITUYE LAS PISTAS DE CONEXIONADO, SOBRE LAS QUE SE SUPERPONE UNA CAPA AISLANTE (5) QUE VA SEGUIDA DE UNA CAPA MAGNETICA (6), A CONTINUACION DE LAS CUALES SE REPITEN LAS CAPAS EN ORDEN INVERSO, DE MANERA QUE AL HACER CIRCULAR POR LAS CAPAS CONDUCTORAS (4), ENTRE LAS QUE QUEDA UBICADO UN NUCLEO MAGNETICO (6), CORRIENTES ALTERNAS IGUALES Y EN SENTIDOS OPUESTOS, SE ANULA DICHO CAMPO MAGNETICO EN LA ZONA EXTERNA A LOS NUCLEOS MAGNETICOS, CON LO QUE LAS CAPAS CONDUCTORAS ALEJADAS DEL NUCLEO MAGNETICO (6) CONSTITUYEN BOBINAS DETECTORAS DEL CAMPO MAGNETICO EXTERIOR.

Tipo: Resumen de patente/invención.

Solicitante: ALCATEL STANDARD ELECTRICA, S.A..

Nacionalidad solicitante: España.

Provincia: MADRID.

Inventor/es: VINCUERIA MORENO, INES, AROCA HERNANDEZ, CLAUDIO, TRIANA REYES, JAVIER.

Fecha de Solicitud: 26 de Junio de 1991.

Fecha de Publicación: .

Fecha de Concesión: 17 de Noviembre de 1995.

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G01R33/04 FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01R MEDIDA DE VARIABLES ELECTRICAS; MEDIDA DE VARIABLES MAGNETICAS (indicación de la sintonización de circuitos resonantes H03J 3/12). › G01R 33/00 Dispositivos o aparatos para la medida de valores magnéticos. › utilizando el principio del accionamiento periódico del flujo.
  • H01L43/12 ELECTRICIDAD.H01 ELEMENTOS ELECTRICOS BASICOS.H01L DISPOSITIVOS SEMICONDUCTORES; DISPOSITIVOS ELECTRICOS DE ESTADO SOLIDO NO PREVISTOS EN OTRO LUGAR (utilización de dispositivos semiconductores para medida G01; resistencias en general H01C; imanes, inductancias, transformadores H01F; condensadores en general H01G; dispositivos electrolíticos H01G 9/00; pilas, acumuladores H01M; guías de ondas, resonadores o líneas del tipo guía de ondas H01P; conectadores de líneas, colectores de corriente H01R; dispositivos de emisión estimulada H01S; resonadores electromecánicos H03H; altavoces, micrófonos, cabezas de lectura para gramófonos o transductores acústicos electromecánicos análogos H04R; fuentes de luz eléctricas en general H05B; circuitos impresos, circuitos híbridos, envolturas o detalles de construcción de aparatos eléctricos, fabricación de conjuntos de componentes eléctricos H05K; empleo de dispositivos semiconductores en circuitos que tienen una aplicación particular, ver la subclase relativa a la aplicación). › H01L 43/00 Dispositivos que utilizan efectos galvanomagnéticos o efectos magnéticos análogos; Procesos o aparatos especialmente adaptados a la fabricación o tratamiento de estos dispositivos o de sus partes constitutivas (dispositivos consistentes en una pluralidad de componentes de estado sólido formado en o sobre un sustrato común H01L 27/00). › Procesos o aparatos específicos para la fabricación o tratamiento de estos dispositivos o de sus elementos.
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