CIRCUITO INTEGRADO CON TEST AUTOMATICO DE MEMORIA.
UNA SERIE DE MEMORIA INCLUIDA CON CIRCUITERIA LOGICA EN UN CIRCUITO INTEGRADO ES VERIFCADA POR UNA TECNIDCA QUE LEE Y ESCRIBE UNA SECUENCIA ESPECIFICADA DE BITS,
DE TEST DENTRO DE UNA PALABRA DE MEMORIA DADA, ANTES DE PASAR A LA SIGUIENTE PALABRA. UN MODELO O PLANTILLA DE TARJETA DE CHEQUEO DE UNOS Y CEROS ES ESCRITA DENTRO DE LOCALIZACIONES FISICAS DE MEMORIA. ESO PROPORCIONA PARA EL PEOR DE LOS CASOS UN TEST MIENTRAS SE PERMITE FACIL IMPLANTACION DE LA CIRCUITERIA DEL TEST. RESULTADO DEL TEST DESDE UN CIRCUITO COMPARADOR PUEDE SER COMPRIMIDO PARA PROPORCIONAR UNAS POCAS SEÑALES DE ENSAYO, INDICANDO SI LA MEMORIA HA PASADO EL TEST, REQUIRIENDO UN NUMERO MINIMO DE TERMINALES PARA EL CHIP.
Tipo: Resumen de patente/invención.
Solicitante: AMERICAN TELEPHONE AND TELEGRAPH COMPANY.
Nacionalidad solicitante: Estados Unidos de América.
Dirección: 550 MADISON AVENUE, NEW YORK, NY 10022.
Inventor/es: AADSEN, DUANE RODNEY, JAIN, SUNIL KUMAR, STROUD, CHARLES EUGENE.
Fecha de Publicación: .
Fecha Concesión Europea: 15 de Diciembre de 1993.
Clasificación Internacional de Patentes:
- G11C29/00 FISICA. › G11 REGISTRO DE LA INFORMACION. › G11C MEMORIAS ESTATICAS (dispositivos semiconductores para memorias H01L, p. ej. H01L 27/108 - H01L 27/11597). › Verificación del funcionamiento correcto de memorias; Ensayo de memorias durante su funcionamiento fuera de línea (offline")o en espera ("standby").
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