UN APARATO DE DIAGNOSTICO POR RAYOS X.

Un aparato de diagnóstico por rayos-X para examinar una capa de un objeto,

que comprende al menos una fuente de radiación para irradiación del objeto en una pluralidad de direcciones, las cuales están situadas en una capa del objeto, al menos un detector de radiación para detectar la radiación que penetra en el objeto y para proporcionar datos de mediación que representa la atenuación o la transmisión de la radiación en una dirección a lo largo de una serie de trayectorias de medición las cuales están situadas en la capa del objeto, una unidad aritmética para convertir los datos de medición en datos de imagen que representan los valores de atenuación de elementos de una matriz, en que es reconstruidas una imagen de la apa irradiada, comprendiendo la matriz una imagen reconstruida del objeto y una región exterior, comprendiendo ademas el aparato una memoria de datos para almacenar los datos de medición y para almacenar los datos de medición y para almacenar los datos de imagen, caracterizado porque el aparato comprende un generador de direcciones que esta conectado a la memoria de datos a través de medios de conmutación a fin de apuntar direcciones en la memoria de datos, estando conectado ademas dicho generador de direcciones a un comparador, estando el comparador conectado a la memoria de datos y a una memoria de direcciones, sirviendo dicho comparador para comparar direcciones generadas por el generador de direcciones y direcciones suministradas por la memoria de direcciones con el fin de apuntar direcciones en la región exterior de la matriz a fin de comprobar si hay presentes señales de error en los elementos que tienen direcciones en dicha región exterior almacenadas en la memoria de direcciones, comprendiendo el aparatos además un dispositivo formador del valor medio que esta conectado a través de medios de conmutación a la memoria de datos a fin de obtener un valor medio de los datos de imagen de los elementos en la región exterior a lo largo de una trayectoria de medición, estando conectado dicho dispositivo de formación del valor medio a un circuito de resta, el cual esta también conectado a la memoria de datos a fin de restar dicho valor medio de todos los datos de imagen de los elementos a lo largo de dicha trayectoria de medición.

Tipo: Resumen de patente/invención.

Solicitante: N.V. PHILIPS' GLOEILAMPENFABRIEKEN.

Fecha de Solicitud: 5 de Diciembre de 1978.

Fecha de Publicación: .

Fecha de Concesión: 1 de Noviembre de 1979.

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G01T FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.MEDIDA DE RADIACIONES NUCLEARES O DE RAYOS X (análisis de materiales por radiaciones, espectrometría de masas G01N 23/00; tubos para determinar la presencia, intensidad, densidad o energía de una radiación o de partículas H01J 47/00).

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