SISTEMA DE ENTRADA DE GAS.

Entrada de gas de referencia para un sistema de espectrómetro de masas de relaciones isotópicas que comprende tres conductos que se que se cortan en un punto de intersección, en la que un flujo secundario de gas portador y un gas de referencia pueden entrar en la entrada mediante un primer

(I) y un segundo conducto respectivamente, y pueden salir de la entrada juntos mediante un tercer conducto (O), caracterizada porque el segundo conducto comprende un conducto (R) interno situado dentro de un conducto (S) de revestimiento, estando el conducto (R) interno móvil dentro del conducto (S) de recubrimiento desde una primera posición en la que el extremo del conducto (R) interno se encuentra antes del punto de intersección y posición en la que, cuando se usa, el gas de referencia deja el sistema a través del conducto (S) de revestimiento, y una segunda posición en la que el conducto (R) interno se encuentra en el punto de intersección y posición en la que, cuando se usa, el gas de referencia sale con el flujo secundario de gas portador a través del tercer conducto (O).

Tipo: Resumen de patente/invención.

Solicitante: THE UNIVERSITY COURT OF THE UNIVERSITY OF DUNDEE.

Nacionalidad solicitante: Reino Unido.

Dirección: ,DUNDEE DD1 4HN, SCOTLAND.

Inventor/es: MEIER-AUGENSTEIN, WOLFRAM.

Fecha de Publicación: .

Fecha Solicitud PCT: 23 de Diciembre de 1996.

Fecha Concesión Europea: 22 de Marzo de 2006.

Clasificación Internacional de Patentes:

  • SECCION G — FISICA > METROLOGIA; ENSAYOS > INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION... > Investigación o análisis de materiales por separación... > G01N30/84 (Preparación de las fracciones a separar)
  • SECCION H — ELECTRICIDAD > ELEMENTOS ELECTRICOS BASICOS > TUBOS DE DESCARGA ELECTRICA O LAMPARAS DE DESCARGA... > Espectrómetros de partículas o tubos separadores... > H01J49/04 (Disposiciones para introducir o extraer muestras antes de ser analizadas, p. ej. cierres estancos; Disposiciones para el ajuste externo de componentes electronópticos o ionópticos)

Países PCT: Austria, Bélgica, Suiza, Alemania, Dinamarca, España, Francia, Reino Unido, Grecia, Italia, Liechtensein, Luxemburgo, Países Bajos, Suecia, Mónaco, Portugal, Irlanda, Eslovenia, Finlandia, Rumania, Oficina Europea de Patentes, Lituania, Letonia, Albania, Armenia, Azerbayán, Bielorusia, Kenya, Kirguistán, Kazajstán, Lesotho, República del Moldova, Malawi, Federación de Rusia, Sudán, Tayikistán, Turkmenistán, Uganda, Burkina Faso, Benin, República Centroafricana, Congo, Costa de Marfil, Camerún, Gabón, Guinea, Malí, Mauritania, Niger, Senegal, Chad, Togo, Organización Regional Africana de la Propiedad Industrial, Swazilandia, Organización Africana de la Propiedad Intelectual, Organización Eurasiática de Patentes.

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