REFRACTOMETRO CON REJILLAS DE BRAGG INCLINADAS.

Sistema para medir el índice de refracción de al menos un medio (18; M2, M2 ... MN) comprendiendo este sistema: una guía

(14, 50) de ondas que comprende al menos un transductor (16; R1, R2 ... RN) formado, en la parte de la guía de ondas que se pone en contacto con el medio, mediante una rejilla de Bragg inclinada, cuya respuesta espectral depende del índice de refracción del medio por medio de un acoplamiento de energía entre el modo guiado y los modos de revestimiento y/o un continuo de modos de radiación, una fuente (20, 28) de luz acoplada ópticamente a la guía de ondas con objeto de dirigir esta luz a la misma y para hacerla interactuar con la red de difracción, medios (22, 30, 44, 52) de análisis espectral provistos para analizar la luz que ha interactuado con la rejilla y para proporcionar un espectro correspondiente a esta rejilla, medios (24, 32, 46, 54) de adquisición provistos para recuperar este espectro, y medios (26, 34, 48, 56) de procesamiento electrónico provistos para correlacionar a partir del espectro así recuperado, la respuesta espectral de la rejilla con un valor de índice de refracción del medio y para proporcionar este valor.

Tipo: Resumen de patente/invención.

Solicitante: COMMISSARIAT A L'ENERGIE ATOMIQUE.

Nacionalidad solicitante: Francia.

Dirección: 31/33, RUE DE LA FEDERATION,75752 PARIS 15EME.

Inventor/es: LAFFONT, GUILLAUME, FERDINAND, PIERRE.

Fecha de Publicación: .

Fecha Solicitud PCT: 2 de Octubre de 2001.

Fecha Concesión Europea: 29 de Diciembre de 2004.

Clasificación Internacional de Patentes:

  • SECCION G — FISICA > METROLOGIA; ENSAYOS > INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION... > Investigación o análisis de los materiales por... > G01N21/45 (utilizando métodos interferométricos; utilizando los métodos de Schlieren)

Países PCT: Austria, Bélgica, Suiza, Alemania, Dinamarca, España, Francia, Reino Unido, Grecia, Italia, Liechtensein, Luxemburgo, Países Bajos, Suecia, Mónaco, Portugal, Irlanda, Finlandia, Chipre, Oficina Europea de Patentes.

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