PROCEDIMIENTO Y DISPOSITIVO PARA LA MEDICION DEL DESARROLLO DE SUPERFICIES REFLECTANTES.

LA INVENCION SE REFIERE A UN PROCEDIMIENTO PARA MEDIR EL RECORRIDO DE UNA SUPERFICIE REFLECTANTE (2) DE UN OBJETO,

QUE COMPRENDE LOS PASOS SIGUIENTES: PROYECTAR UNA CONFIGURACION DEFINIDA DE AL MENOS DOS INTENSIDADES LUMINOSAS DIFERENTES SOBRE LA SUPERFICIE QUE SE DEBE MEDIR; OBSERVAR AL MENOS UNA SECCION (7) DE LA SUPERFICIE POR MEDIO DE AL MENOS UNA CAMARA; Y EVALUAR LA SECCION OBSERVADA SOBRE LA BASE DE LOS DATOS DE LA CAMARA. LA INVENCION PROPORCIONA UN PROCEDIMIENTO DE SIMPLE DISEÑO Y CONTROL PRECISO, DADO QUE LA CONFIGURACION PRODUCE UNA IMAGEN ESPECULAR (6) EN LA SUPERFICIE REFLECTANTE, Y PORQUE LA SECCION OBSERVADA (7) COMPRENDE UNA SECCION DE LA IMAGEN ESPECULAR DE LA CONFIGURACION. LA INVENCION SE REFIERE ADEMAS A UN DISPOSITIVO PARA DETERMINAR EL RECORRIDO DE LA SUPERFICIE REFLECTANTE DE UN OBJETO, COMPRENDIENDO DICHO DISPOSITIVO MEDIOS PARA GENERAR UNA CONFIGURACION LUMINOSA, Y TENIENDO AL MENOS UNA CAMARA PARA OBSERVAR AL MENOS UNA SECCION DE LA SUPERFICIE. LA INVENCION PROPORCIONA UN DISPOSITIVO DE SIMPLE DISEÑO Y CONTROL PRECISO, DADO QUE LA CAMARA SE AJUSTA CON EXACTITUD A UNA IMAGEN ESPECULAR DE LA CONFIGURACION DE LOS RAYOS DE LUZ.

Tipo: Resumen de patente/invención.

Solicitante: INNOMESS GESELLSCHAFT FUR MESSTECHNIK MBH.

Nacionalidad solicitante: Alemania.

Dirección: ELBESTRASSE 10,45768 MARL.

Inventor/es: PINGEL, ULRICH, DUMMLER, MATTHIAS, KLAPHECKE, JOHANNES.

Fecha de Publicación: .

Fecha Solicitud PCT: 17 de Octubre de 1997.

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G01B11/24 FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01B MEDIDA DE LA LONGITUD, ESPESOR O DIMENSIONES LINEALES ANALOGAS; MEDIDA DE ANGULOS; MEDIDA DE AREAS; MEDIDA DE IRREGULARIDADES DE SUPERFICIES O CONTORNOS.G01B 11/00 Disposiciones de medida caracterizadas por la utilización de medios ópticos (instrumentos de los tipos cubiertos por el grupo G01B 9/00 en sí G01B 9/00). › para la medida de contornos o curvaturas.

Países PCT: Austria, Bélgica, Suiza, Alemania, España, Francia, Reino Unido, Italia, Liechtensein, Luxemburgo, Suecia, Irlanda, Finlandia, Oficina Europea de Patentes.

PROCEDIMIENTO Y DISPOSITIVO PARA LA MEDICION DEL DESARROLLO DE SUPERFICIES REFLECTANTES.

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