PROCEDIMIENTO Y DISPOSITIVO PARA LA DETERMINACION DE UN ERROR ANGULAR Y UTILIZACION DEL DISPOSITIVO.

Procedimiento para la determinación de modificaciones reales (??) y de modificaciones teóricas (??*) de un ángulo espacial de un eje principal (e) de un sensor o realizador que está fijado en un soporte (4.

1), cuyo soporte (4.1) es giratorio directamente alrededor de un primer eje de giro (1) e indirectamente alrededor de al menos otro eje de giro (b, a), en el que - un dispositivo opto-electrónico (5) de medición del ángulo está fijado con al menos dos ejes de medición en el soporte (4.1), - se lleva a cabo para un primer eje de giro (1, b, a) un proceso de cálculo, en el que se realiza una rotación en etapas de rotación alrededor de este primer eje de giro (1, b, a), mientras que se impide cualquier rotación alrededor de al menos otro eje de giro, y en el que después de cada etapa de rotación, - se detecta y se memoriza una primera modificación real (??) del ángulo espacial del eje principal (e) a través del dispositivo de medición de ángulos (5), y - se pone a disposición y se memoriza una primera modificación teórica (??*) del ángulo espacial del eje principal (e) desde un dispositivo de codificación (10),

Tipo: Resumen de patente/invención.

Solicitante: OERLIKON CONTRAVES AG.

Nacionalidad solicitante: Suiza.

Dirección: BIRCHSTRASSE 155,8050 ZURICH.

Inventor/es: SCHNEIDER, GABRIEL.

Fecha de Publicación: .

Fecha Concesión Europea: 23 de Agosto de 2006.

Clasificación Internacional de Patentes:

  • F41G5/26 MECANICA; ILUMINACION; CALEFACCION; ARMAMENTO; VOLADURA.F41 ARMAS.F41G APARATOS DE MIRA; PUNTERIA (aspectos ópticos G02B). › F41G 5/00 Sistemas para controlar la elevación o la dirección en los cañones (soportes para armas de fuego que permiten el movimiento en altura o en dirección p. ej. cureñas, F41A 27/00; computadores G06). › Aparatos para ensayos o verificaciones.

Clasificación PCT:

  • F41G5/26 F41G 5/00 […] › Aparatos para ensayos o verificaciones.

Patentes similares o relacionadas:

Imagen de 'Varilla balística para fotogrametría y láser escáner'Varilla balística para fotogrametría y láser escáner, del 8 de Septiembre de 2014, de UNIVERSIDAD DE SALAMANCA: Varilla balística para laser escáner y fotogrametría. Varilla balística para sistemas de escaneo láser y fotogramétricos en ingeniería forense que permite […]

Utilizamos cookies para mejorar nuestros servicios y mostrarle publicidad relevante. Si continua navegando, consideramos que acepta su uso. Puede obtener más información aquí. .