PROCEDIMIENTO PARA LA IDENTIFICACION DE UN PROCESO AFECTADO CON RETARDO CON COMPENSACION ASI COMO INSTALACION PARA LA REGULACION DE UN PROCESO DE ESTE TIPO.

Se presenta un procedimiento de identificación matemática para un proceso expuesto a retraso con compensación,

que comprende especialmente un calentamiento seguido de un enfriamiento, por ejemplo en la extrusión de materiales termoplásticos. Comenzando a partir del primer estado regular, el control variable (y) del primer controlador (33) se fija en un primer valor constante (80%) y se elimina el del segundo controlador (34). Después de la determinación de un punto de inflexión en la curva de la variable de control (x), se identifica un primer modelo IT1 del sistema de control de procesamiento (32). El proceso se controla como función del primer modelo IT1, al menos hasta un segundo estado regular (170º C) que se diferencia del primero. A partir de la tangente (wh) en el primer punto de inflexión, el valor de la variable (y) y la variable de control (x) del primer y el segundo estado regular, se identifica un modelo VZ2. Comenzando a partir del primer estado regular, el control variable (y) del primer controlador (33) se fija en un primer valor constante (80%) y se elimina el del segundo controlador (34). Después de la determinación de un punto de inflexión en la curva de la variable de control (x), se identifica un primer modelo IT1 del sistema de control de procesamiento (32). El proceso se controla como función del primer modelo IT1, al menos hasta un segundo estado regular (170º C) que se diferencia del primero. A partir de la tangente (wh) en el primer punto de inflexión, el valor de la variable (y) y la variable de control (x) del primer y el segundo estado regular, se identifica un modelo VZ2. El modelo VZ2 describe la cinética del proceso (32) y el coeficiente de amplificación para el primer controlador (33). A partir del segundo estado regular se desactiva el primer controlador (33) y la variable de control del segundo controlador (34) se fija a un segundo valor constante (20%). Una vez que se haya determinado un segundo punto de inflexión en la curva de la magnitud de control (x), se determina un coeficiente de amplificación para el segundo controlador (34), de acuerdo con la fórmula: kik = (dxwk/dt + Kih . yinfinity) / (YLLMTUM). En esta ecuación: dxwk/dt es la pendiente de la tangente en el segundo punto de inflexión y (kik) es el coeficiente de amplificación del proceso del primer modelo identificado IT1. Yinfinity es el valor de la magnitud (y) en el segundo estado regular. YLLMUTM es el segundo valor constante de la variable de control. Se incluye una reivindicación independiente para un equipo basado en el procedimiento, que se utiliza, por ejemplo, para controlar un extrusor de material plástico. Existen controladores que funcionan a diferentes intensidades. Características preferidas: las características más sobresalientes incluyen el punto de trabajo típico de 170º C de un estado regular, que sigue al calentamiento. El proceso de control se elabora matemáticamente de forma adicional, incluyendo fórmulas en la forma de aproximaciones, expansiones de series polinómicas, de hasta quinto orden con respecto a la relación de constantes de tiempo de la trayectoria del proceso. También se suministran constantes empíricas cuantificadas.

Tipo: Resumen de patente/invención.

Solicitante: SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT.

Nacionalidad solicitante: Alemania.

Dirección: WITTELSBACHERPLATZ 2,80333 MUNCHEN.

Inventor/es: PFEIFFER, BERND-MARKUS.

Fecha de Publicación: .

Fecha Concesión Europea: 18 de Junio de 2003.

Clasificación Internacional de Patentes:

  • B29C47/92
  • G05B13/04 FISICA.G05 CONTROL; REGULACION.G05B SISTEMAS DE CONTROL O DE REGULACION EN GENERAL; ELEMENTOS FUNCIONALES DE TALES SISTEMAS; DISPOSITIVOS DE MONITORIZACION O ENSAYOS DE TALES SISTEMAS O ELEMENTOS (dispositivos de maniobra por presión de fluido o sistemas que funcionan por medio de fluidos en general F15B; dispositivos obturadores en sí F16K; caracterizados por particularidades mecánicas solamente G05G; elementos sensibles, ver las subclases apropiadas, p. ej. G12B, las subclases de G01, H01; elementos de corrección, ver las subclases apropiadas, p. ej. H02K). › G05B 13/00 Sistemas de control adaptativos, es decir, sistemas que se regulan a sí mismos para obtener un rendimiento óptimo siguiendo un criterio predeterminado (G05B 19/00 tiene prioridad; aprendizaje automático G06N 20/00). › que implican el uso de modelos o de simuladores.
  • G05B17/02 G05B […] › G05B 17/00 Sistemas que implican el uso de modelos o de simuladores de dichos sistemas (G05B 13/00, G05B 15/00, G05B 19/00 tienen prioridad; computadores analógicos para procedimientos, sistemas o dispositivos específicos, p. ej. simuladores, G06G 7/48). › eléctricos.
  • G05B23/02 G05B […] › G05B 23/00 Ensayo o monitorización de sistemas de control o de sus elementos (monitorización de sistemas de control por programa G05B 19/048, G05B 19/406). › Ensayo o monitorización eléctrico.
PROCEDIMIENTO PARA LA IDENTIFICACION DE UN PROCESO AFECTADO CON RETARDO CON COMPENSACION ASI COMO INSTALACION PARA LA REGULACION DE UN PROCESO DE ESTE TIPO.

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