MICROSCOPIO DE COHERENCIA OPTICA Y PROCEDIMIENTO PARA LA VISUALIZACION RAPIDA EN TRES DIMENSIONES EN VIVO DE FUNCIONES BIOLOGICAS.
Un sistema de microscopio de coherencia óptica de alta resolución para visualizar estructuras bajo una superficie de una muestra biológica,
comprendiendo el sistema: - una fuente de luz; - un espejo de referencia; - una lente de focalización para focalizar la luz sobre la muestra biológica; - un fotodetector; - un dispositivo piezoeléctrico; - un camino óptico de muestra para recibir la luz de la fuente de luz y dirigir la luz a la lente de focalización, teniendo dicho camino de muestra una longitud de camino de muestra, en el que la luz dirigida a lo largo del camino de la muestra entra en la muestra biológica y se concentra en una abertura de un diámetro de haz dentro de la muestra; - un camino óptico de referencia para recibir la luz de la fuente de luz y dirigir la luz al espejo de referencia, teniendo dicho camino de referencia una longitud de camino de referencia; - en el que la longitud de al menos uno de los caminos ópticos está modulada por medio del dispositivo piezoeléctrico, y en el que un haz de luz proveniente del camino óptico de la muestra dispersado hacia atrás desde la muestra biológica se combina con un haz de luz proveniente del camino de referencia reflejado desde el espejo de referencia, en el que la combinación de haces de luz produce una señal de franjas de interferencia sobre el fotodetector cuando la longitud del camino de muestra y la longitud del camino de referencia son sustancialmente la misma dentro de la longitud de coherencia de la fuente de luz, en el que la amplitud de la modulación es igual o menor a 1, 5 longitudes de onda; y - un escáner dispuesto para explorar la abertura del haz a través de un primer plano sustancialmente normal a la dirección del haz de luz incidente, y para mover entonces la abertura del haz más profundo dentro de la muestra y para explorar otro plano mientras la posición del espejo de referencia es trasladada para conservar las longitudes de camino iguales de los caminos de muestra y de referencia coincidentes con la abertura del haz, y que la amplitud de franja es registrada en cada elemento de imagen volumétrica de elemento de volumen durante la exploración de la muestra resultante en un conjunto de datos tridimensionales que es representado en volumen para proporcionar una visualización en tres dimensiones de la muestra.
Tipo: Resumen de patente/invención.
Solicitante: MEDFORD, JUNE IRIS
HASKELL, RICHARD CAMPBELL
HOELING, BARBARA MARIA
PETERSEN, DANIEL CARL
WANG, RUYE
WILLIAMS, MARY ELIZABETH.
Nacionalidad solicitante: Estados Unidos de América.
Dirección: 1331 CAPE COD CIRCLE,FORT COLLINS, CO 80525.
Inventor/es: MEDFORD, JUNE IRIS, HASKELL, RICHARD CAMPBELL, HOELING, BARBARA MARIA, PETERSEN, DANIEL CARL, WANG, RUYE, WILLIAMS, MARY ELIZABETH.
Fecha de Publicación: .
Fecha Solicitud PCT: 28 de Enero de 2000.
Fecha Concesión Europea: 9 de Junio de 2004.
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01N21/47 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › G01N 21/00 Investigación o análisis de los materiales por la utilización de medios ópticos, es decir, utilizando rayos infrarrojos, visibles o ultravioletas (G01N 3/00 - G01N 19/00 tienen prioridad). › Dispersión, es decir, reflexión difusa (G01N 21/25, G01N 21/41 tienen prioridad).
Países PCT: Austria, Bélgica, Suiza, Alemania, Dinamarca, España, Francia, Reino Unido, Grecia, Italia, Liechtensein, Luxemburgo, Irlanda, Eslovenia, Finlandia, Rumania, Chipre, Oficina Europea de Patentes, Lituania, Letonia, Ex República Yugoslava de Macedonia, Albania, Armenia, Azerbayán, Bielorusia, Ghana, Gambia, Kenya, Kirguistán, Kazajstán, Lesotho, República del Moldova, Malawi, Federación de Rusia, Sudán, Sierra Leona, Tayikistán, Turkmenistán, República Unida de Tanzania, Uganda, Zimbabwe, Burkina Faso, Benin, República Centroafricana, Congo, Costa de Marfil, Camerún, Gabón, Guinea, Malí, Mauritania, Niger, Senegal, Chad, Togo, Organización Regional Africana de la Propiedad Industrial, Swazilandia, Guinea-Bissau, Organización Africana de la Propiedad Intelectual, Organización Eurasiática de Patentes.
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