MICROSCOPIO CONFOCAL DE EXPLORACION RAPIDA POR LASER DE LINEAS MULTIPLES.

Un microscopio de exploración confocal por láser, que comprende: un medio, incluyendo una fuente

(1) de luz de láser, para emitir haces de luz de láser en diferentes longitudes de onda; una trayectoria de haces para dirigir los citados haces de luz de láser desde el citado medio de emisión de haces de luz de láser a un portaobjetos que soporta un objeto, incluyendo la citada trayectoria: un primer deflector, incluyendo un deflector acústico - óptico (5) para efectuar la exploración de líneas, al menos un objetivo (9) para enfocar los haces de luz de láser sobre el objeto en el citado portaobjetos, un segundo deflector(7) situado entre el citado deflector acústico - óptico (5) y el citado al menos un objetivo (9), para efectuar la exploración de marcos, estando situados el citado segundo deflector (7) y el citado al menos un objetivo (9) de manera que los haces (19) de luz de retorno desde el objeto sigan la misma trayectoria que los haces de luz de láser enfocados sobre el objeto, hasta e incluyendo el segundo deflector (7), al menos un detector (15; 26) situado en la trayectoria de haces de luz de retorno aguas abajo del citado segundo deflector (7), para detectar los haces de luz de retorno desde el objeto, estando adaptado el objeto para ser explorado por los haces de luz de láser desde el medio de emisión de haces de luz de láser y estando adaptadas las mediciones para realizarse con el citado al menos un detector (15; 26) con los del fin de obtener imágenes del objeto, y un sistema electrónico de control y formación de imágenes adaptado para controlar el medio de emisión de haces de luz de láser para emitir haces de luz de láser individuales secuencialmente en longitudes de onda seleccionadas y adaptado para ajustar dinámicamente los parámetros de accionamiento del citado deflector acústico - óptico (5) controlando dinámicamente la frecuencia de inicio y la frecuencia final del deflector acústico - óptico de manera que mantenga una posición de exploración de líneas constante en todas las longitudes de onda del haz de entrada, y controlando dinámicamente la velocidad de cambio de frecuencia de la señal de accionamiento al deflector acústico - óptico de manera que se obtenga un efecto de lenticularidad constante en todas las longitudes de onda del haz de entrada, para mantener la alineación de las líneas de exploración de la imagen en todas las longitudes de onda.

Tipo: Resumen de patente/invención.

Solicitante: VISITECH INTERNATIONAL LTD.

Nacionalidad solicitante: Reino Unido.

Dirección: ,,SUNDERLAND, SR5 2TQ.

Inventor/es: EBERHARDT,COLIN, SHEBLEE,JAFER, BELL,KEN.

Fecha de Publicación: .

Fecha Solicitud PCT: 7 de Abril de 2004.

Fecha Concesión Europea: 4 de Julio de 2007.

Clasificación PCT:

  • SECCION G — FISICA > METROLOGIA; ENSAYOS > INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION... > Investigación o análisis de los materiales por... > G01N21/64 (Fluorescencia; Fosforescencia)
  • SECCION G — FISICA > OPTICA > ELEMENTOS, SISTEMAS O APARATOS OPTICOS (G02F tiene... > G02B21/00 (Microscopios (oculares G02B 25/00; sistemas polarizantes G02B 27/28; microscopios de medida G01B 9/04; micrótomos G01N 1/06;   técnicas o aparatos de sonda de barrido G01Q))
  • SECCION G — FISICA > OPTICA > ELEMENTOS, SISTEMAS O APARATOS OPTICOS (G02F tiene... > Dispositivos o sistemas ópticos que utilizan elementos... > G02B26/08 (para controlar la dirección de la luz (en guías de luz G02B 6/35))

Países PCT: Austria, Bélgica, Suiza, Alemania, Dinamarca, España, Francia, Reino Unido, Grecia, Italia, Liechtensein, Luxemburgo, Países Bajos, Suecia, Mónaco, Portugal, Irlanda, Eslovenia, Finlandia, Rumania, Chipre, Lituania, Letonia, Ex República Yugoslava de Macedonia, Albania.

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