METODO Y APARATO PARA LOCALIZAR UNA DESCARGA EN UN ESTATOR DE UNA MAQUINA ELECTRICA.
Método para localizar una fuente de descarga de al menos una descarga parcial de un estátor de una máquina eléctrica,
en la que el estátor está provisto, en varias posiciones, de sensores para detectar pulsos eléctricos generados por la descarga, mediante el que se determina al menos un retardo temporal entre los pulsos eléctricos detectados por los sensores, y se calcula la localización de la fuente de la descarga basándose en dicho retardo o retardos temporales, caracterizado porque la localización calculada de la fuente de la descarga se determina mediante la optimización hasta un valor mínimo de una función diferencial: en la que las variables utilizadas tienen los siguientes significados: e = resultado de la función diferencial s = sensor A, B, C, D, E, F o G As = amplitud del pulso eléctrico medida en el sensor s Ä Tms = retardo temporal medido con relación a una referencia Ä Tcs = retardo computado temporal en el sensor s en relación a la referencia y porque el retardo computado temporal Ä Tcs es determinado para diferentes localizaciones calculadas seleccionadas de las descargas, y porque se designa como la fuente de la descarga la localización calculada seleccionada que produce el menor valor de la función diferencial.
Tipo: Resumen de patente/invención.
Solicitante: TECHNISCHE UNIVERSITEIT DELFT
N.V. KEMA.
Nacionalidad solicitante: Países Bajos.
Dirección: JULIANALAAN 134,2628 BL DELFT.
Inventor/es: VAN BREEN, HARRY, JORN.
Fecha de Publicación: .
Fecha Solicitud PCT: 14 de Noviembre de 2003.
Fecha Concesión Europea: 10 de Mayo de 2006.
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01R31/06
- G01R31/34 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01R MEDIDA DE VARIABLES ELECTRICAS; MEDIDA DE VARIABLES MAGNETICAS (indicación de la sintonización de circuitos resonantes H03J 3/12). › G01R 31/00 Dispositivos para ensayo de propiedades eléctricas; Dispositivos para la localización de fallos eléctricos; Disposiciones para el ensayo eléctrico caracterizadas por lo que se está ensayando, no previstos en otro lugar (ensayo o medida de dispositivos semiconductores o de estado sólido, durante la fabricación H01L 21/66; ensayo de los sistemas de transmisión por líneas H04B 3/46). › Ensayo de máquinas dinamoeléctricas.
Países PCT: Austria, Bélgica, Suiza, Alemania, Dinamarca, España, Francia, Reino Unido, Grecia, Italia, Liechtensein, Luxemburgo, Países Bajos, Suecia, Mónaco, Portugal, Irlanda, Eslovenia, Finlandia, Rumania, Chipre, Oficina Europea de Patentes, Lituania, Letonia, Ex República Yugoslava de Macedonia, Albania.
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