METODO Y APARATO PARA DETECTAR IRREGULARIDADES EN UN PRODUCTO.
Método para detectar irregularidades en un producto, en que se dirige por lo menos una banda luminosa (2),
consistente por lo menos en un rayo láser o haz de luz, hacia dicho producto (7) por medio de un espejo móvil (4, 5), de modo que el producto (7) se mueve en una dirección determinada a través de una zona de detección, de tal modo que dicha banda (2), que se mueve transversalmente a través de la dirección de movimiento del producto (7), es como mínimo parcialmente dispersada y/o reflejada por dicho producto (7), de modo que la luz dispersada es reflejada a través del citado espejo (4, 5) y separada de la luz reflejada, siendo la luz dispersada detectada, por lo menos parcialmente, por como mínimo un sensor (12, 13) a fin de detectar irregularidades en el producto, caracterizado por el hecho de que la cantidad de luz dispersada por una parte del producto y capturada por dicho sensor (12, 13) se determina en función de la posición de la citada banda luminosa (2) transversalmente a la dirección del movimiento del producto mediante un elemento de abertura ajustable (20) que tiene una abertura (22) que se ajusta de manera que se estrecha progresivamente hacia el punto de la citada abertura en que cae la mayor corriente de luz dispersada (8), de manera que la cantidad de luz capturada por dicho sensor es independiente de la posición a través del producto de dicha parte en la citada zona de detección, o dicho en otras palabras, independiente de la posición de la mencionada banda luminosa (2) a través del producto.
Tipo: Resumen de patente/invención.
Solicitante: RUYMEN, MARC.
Nacionalidad solicitante: Bélgica.
Dirección: BIERBEEKSTRAAT 103,3360 KORBEEK-LO.
Inventor/es: RUYMEN, MARC.
Fecha de Publicación: .
Fecha Solicitud PCT: 25 de Marzo de 1998.
Fecha Concesión Europea: 4 de Agosto de 2004.
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01N21/89 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › G01N 21/00 Investigación o análisis de los materiales por la utilización de medios ópticos, es decir, utilizando rayos infrarrojos, visibles o ultravioletas (G01N 3/00 - G01N 19/00 tienen prioridad). › en un material móvil, p. ej. del papel, de tejidos (G01N 21/90, G01N 21/91, G01N 21/94 tienen prioridad).
- G02B5/00 G […] › G02 OPTICA. › G02B ELEMENTOS, SISTEMAS O APARATOS OPTICOS (G02F tiene prioridad; elementos ópticos especialmente adaptados para ser utilizados en los dispositivos o sistemas de iluminación F21V 1/00 - F21V 13/00; instrumentos de medida, ver la subclase correspondiente de G01, p. ej. telémetros ópticos G01C; ensayos de los elementos, sistemas o aparatos ópticos G01M 11/00; gafas G02C; aparatos o disposiciones para tomar fotografías, para proyectarlas o para verlas G03B; lentes acústicas G10K 11/30; "óptica" electrónica e iónica H01J; "óptica" de rayos X H01J, H05G 1/00; elementos ópticos combinados estructuralmente con tubos de descarga eléctrica H01J 5/16, H01J 29/89, H01J 37/22; "óptica" de microondas H01Q; combinación de elementos ópticos con receptores de televisión H04N 5/72; sistemas o disposiciones ópticas en los sistemas de televisión en colores H04N 9/00; disposiciones para la calefacción especialmente adaptadas a superficies transparentes o reflectoras H05B 3/84). › Elementos ópticos distintos de las lentes (guías de luz G02B 6/00; elementos ópticos lógicos G02F 3/00).
Países PCT: Austria, Bélgica, Suiza, Alemania, Dinamarca, España, Francia, Reino Unido, Grecia, Italia, Liechtensein, Luxemburgo, Países Bajos, Suecia, Mónaco, Portugal, Irlanda, Finlandia, Oficina Europea de Patentes, Armenia, Azerbayán, Bielorusia, Ghana, Gambia, Kenya, Kirguistán, Kazajstán, Lesotho, República del Moldova, Malawi, Federación de Rusia, Sudán, Tayikistán, Turkmenistán, Uganda, Zimbabwe, Burkina Faso, Benin, República Centroafricana, Congo, Costa de Marfil, Camerún, Gabón, Guinea, Malí, Mauritania, Niger, Senegal, Chad, Togo, Organización Regional Africana de la Propiedad Industrial, Swazilandia, Organización Africana de la Propiedad Intelectual, Organización Eurasiática de Patentes.
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