METODO Y APARATO PARA DETECTAR IRREGULARIDADES EN UN PRODUCTO.

Método para detectar irregularidades en un producto, en que se dirige por lo menos una banda luminosa

(2), consistente por lo menos en un rayo láser o haz de luz, hacia dicho producto (7) por medio de un espejo móvil (4, 5), de modo que el producto (7) se mueve en una dirección determinada a través de una zona de detección, de tal modo que dicha banda (2), que se mueve transversalmente a través de la dirección de movimiento del producto (7), es como mínimo parcialmente dispersada y/o reflejada por dicho producto (7), de modo que la luz dispersada es reflejada a través del citado espejo (4, 5) y separada de la luz reflejada, siendo la luz dispersada detectada, por lo menos parcialmente, por como mínimo un sensor (12, 13) a fin de detectar irregularidades en el producto, caracterizado por el hecho de que la cantidad de luz dispersada por una parte del producto y capturada por dicho sensor (12, 13) se determina en función de la posición de la citada banda luminosa (2) transversalmente a la dirección del movimiento del producto mediante un elemento de abertura ajustable (20) que tiene una abertura (22) que se ajusta de manera que se estrecha progresivamente hacia el punto de la citada abertura en que cae la mayor corriente de luz dispersada (8”’), de manera que la cantidad de luz capturada por dicho sensor es independiente de la posición a través del producto de dicha parte en la citada zona de detección, o dicho en otras palabras, independiente de la posición de la mencionada banda luminosa (2) a través del producto.

Tipo: Resumen de patente/invención.

Solicitante: RUYMEN, MARC.

Nacionalidad solicitante: Bélgica.

Dirección: BIERBEEKSTRAAT 103,3360 KORBEEK-LO.

Inventor/es: RUYMEN, MARC.

Fecha de Publicación: .

Fecha Solicitud PCT: 25 de Marzo de 1998.

Fecha Concesión Europea: 4 de Agosto de 2004.

Clasificación Internacional de Patentes:

  • SECCION G — FISICA > METROLOGIA; ENSAYOS > INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION... > Investigación o análisis de los materiales por... > G01N21/89 (en un material móvil, p. ej. del papel, de tejidos (G01N 21/90, G01N 21/91, G01N 21/94 tienen prioridad))
  • SECCION G — FISICA > OPTICA > ELEMENTOS, SISTEMAS O APARATOS OPTICOS (G02F tiene... > G02B5/00 (Elementos ópticos distintos de las lentes (guías de luz G02B 6/00; elementos ópticos lógicos G02F 3/00))

Países PCT: Austria, Bélgica, Suiza, Alemania, Dinamarca, España, Francia, Reino Unido, Grecia, Italia, Liechtensein, Luxemburgo, Países Bajos, Suecia, Mónaco, Portugal, Irlanda, Finlandia, Oficina Europea de Patentes, Armenia, Azerbayán, Bielorusia, Ghana, Gambia, Kenya, Kirguistán, Kazajstán, Lesotho, República del Moldova, Malawi, Federación de Rusia, Sudán, Tayikistán, Turkmenistán, Uganda, Zimbabwe, Burkina Faso, Benin, República Centroafricana, Congo, Costa de Marfil, Camerún, Gabón, Guinea, Malí, Mauritania, Niger, Senegal, Chad, Togo, Organización Regional Africana de la Propiedad Industrial, Swazilandia, Organización Africana de la Propiedad Intelectual, Organización Eurasiática de Patentes.

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