METODO Y APARATO PARA CAPTAR LA RADIACION DETECTABLE PRODUCIDA POR LA PRESENCIA DE MATERIAL EN FORMA DE PARTICULAS.

1. - Método y aparato para captar la radiación detectable producida por la presencia de material en forma de partículas, consistiendo dicho aparato en un aparato captador de radiaciones

(10) en el cual la irradiación del material en forma de partículas produce una fuente (42) de radiación detectable, caracterizado el aparato por una cámara reflectora (12) que tiene una primera superficie reflectora (14 o 74) y una segunda superficie reflectora (16 o 76), teniendo dicha primera superficie reflectora (14 o 74) sustancialmente la configuración de la mitad de un elipsoide de revolución, teniendo dicha primera superficie reflectora (14 o 74) un foco principal (18) y un foco secundario (20), estando uno de dichos focos (18, 20) situado en el interior de dicha cámara reflectora (12) en la fuente (42) de radiación detectable, teniendo dicha segunda superficie reflectora (16 o 76) cualquier configuración sustancialmente plana y sustancialmente una configuración de mitad de elipsoide de revolución, una ventana (24 o 58) formada en una de dichas superficies reflectoras (14, 74 o 16, 76) y alineada en posición de intersección con un eje de simetría (22) definido por dicho foco principal (18) y dicho foco secundario (20), teniendo dicha ventana una dimensión y configuración tal como para proporcionar una parte de la radiación detectable para reflejar dentro de dicha cámara reflectora más de una vez, con lo cual la radiación detectable que emana del primer foco (18) continúa, bien directamente o bien después de una o varias reflexiones a través de dicha ventana (24 o 58).

Tipo: Resumen de patente/invención.

Solicitante: COULTER ELECTRONICS, INC..

Nacionalidad solicitante: Estados Unidos de América.

Dirección: 590 WEST 20TH STREET, HIALEAH, FLORIDA 33010.

Fecha de Solicitud: 20 de Marzo de 1979.

Fecha de Publicación: .

Fecha de Concesión: 1 de Julio de 1980.

Clasificación Internacional de Patentes:

  • SECCION G — FISICA > METROLOGIA; ENSAYOS > INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION... > Investigación de características de partículas;... > G01N15/14 (Investigación por medios electroópticos)
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