METODO PARA MEJORAR MEDICIONES MEDIANTE INTERFEROMETRO DE LASER.

Un método para mejorar la exactitud de mediciones realizadas con el interferómetro de láser

(1, 2) y especialmente para mejorar la exactitud de mediciones de distancia, caracterizado porque la velocidad del sonido (5) se mide cuando recorre la misma trayectoria que la trayectoria del rayo láser (3) y de manera simultánea con la medición de distancia realizada mediante el interferómetro de láser, cuando se determina el efecto de los factores sobre toda la trayectoria del rayo láser del interferómetro de láser, los cuales en su conjunto afectan la velocidad del sonido y el índice de refracción del aire, es decir temperatura del aire, presión del aire, humedad relativa y concentración de gases, el valor de distancia indicado mediante el interferómetro de láser en tiempo real se utiliza en los cálculos, si es necesario, se hacen correcciones teniendo en cuenta los efectos de presión del aire, humedad relativa, concentración de gases, gradientes de temperatura y viento, y utilizando el valor obtenido para calcular una corrección, la cual depende de los factores descritos anteriormente y es proporcional al índice de refracción del aire, al valor de medición, y especialmente al valor de la medición de longitud.

Tipo: Resumen de patente/invención.

Solicitante: MIHALJOV, LEONID.

Nacionalidad solicitante: Finlandia.

Dirección: MALMINKUJA 19,79600 JOROINEN.

Inventor/es: MIHALJOV, LEONID.

Fecha de Publicación: .

Fecha Solicitud PCT: 26 de Noviembre de 1999.

Fecha Concesión Europea: 19 de Abril de 2006.

Clasificación Internacional de Patentes:

  • SECCION G — FISICA > METROLOGIA; ENSAYOS > MEDIDA DE LA LONGITUD, ESPESOR O DIMENSIONES LINEALES... > Instrumentos según se especifica en los subgrupos... > G01B9/02 (Interferómetros)
  • SECCION G — FISICA > METROLOGIA; ENSAYOS > LOCALIZACION DE LA DIRECCION POR RADIO; RADIONAVEGACION;... > Detalles de sistemas según los grupos G01S 13/00,... > G01S7/497 (Medios para monitorización o calibración)

Países PCT: Austria, Bélgica, Suiza, Alemania, Dinamarca, España, Francia, Reino Unido, Grecia, Italia, Liechtensein, Luxemburgo, Países Bajos, Suecia, Mónaco, Portugal, Irlanda, Eslovenia, Finlandia, Rumania, Chipre, Oficina Europea de Patentes, Lituania, Letonia, Ex República Yugoslava de Macedonia, Albania, Armenia, Azerbayán, Bielorusia, Ghana, Gambia, Kenya, Kirguistán, Kazajstán, Lesotho, República del Moldova, Malawi, Federación de Rusia, Sudán, Sierra Leona, Tayikistán, Turkmenistán, República Unida de Tanzania, Uganda, Zimbabwe, Burkina Faso, Benin, República Centroafricana, Congo, Costa de Marfil, Camerún, Gabón, Guinea, Malí, Mauritania, Niger, Senegal, Chad, Togo, Organización Regional Africana de la Propiedad Industrial, Swazilandia, Guinea-Bissau, Organización Africana de la Propiedad Intelectual, Organización Eurasiática de Patentes.

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