METODO PARA DETERMINAR UN ANALITO EMPLEANDO UNA CELULA ELECTROQUIMICA.

METODO PARA DETERMINAR LA CONCENTRACION DE UNA FORMA REDUCIDA (U OXIDADA) DE UNA MUESTRA REDOX EN UNA CELULA ELECTROQUIMICA DE LA CLASE QUE COMPRENDE UN ELECTRODO DE TRABAJO Y UN ELECTRODO OPUESTO SEPARADOS UNA DISTANCIA PREDETERMINADA, COMPRENDIENDO DICHO METODO LAS ETAPAS DE:

(1) APLICAR UNA DIFERENCIA DE POTENCIAL ELECTRICO ENTRE LOS ELECTRODOS; (2) SELECCIONAR EL POTENCIAL DEL ELECTRODO DE TRABAJO DE TAL FORMA QUE LA TASA DE ELECTROOXIDACION DE LA FORMA REDUCIDA (O ELECTRORREDUCCION DE LA FORMA OXIDADA) DE LAS MUESTRAS SEA CONTROLADA EN DIFUSION, (3) SELECCIONAR LA SEPARACION ENTRE EL ELECTRODO DE TRABAJO Y EL ELECTRODO OPUESTO DE FORMA QUE LOS PRODUCTOS DE REACCION DEL ELECTRODO DE OPOSICION LLEGUEN AL ELECTRODO DE TRABAJO; (4) DETERMINAR LA CORRIENTE EN FUNCION DEL TIEMPO TRAS LA APLICACION DEL POTENCIAL Y ANTES DE QUE SE ALCANCE EL ESTADO ESTACIONARIO; (5) ESTIMAR LA MAGNITUD DE LA CORRIENTE DE REGIMEN PERMANENTE, Y (6) CALCULAR, A PARTIR DE LA VARIACION DE LA CORRIENTE EN EL TIEMPO Y DE LA MAGNITUD DE LA CORRIENTE DE REGIMEN PERMANENTE, UN VALOR INDICATIVO DEL COEFICIENTE DE DIFUSION Y/O DE LA CONCENTRACION DE LA FORMA REDUCIDA (O DE LA FORMA OXIDADA) DE LA MUESTRA. TAMBIEN SE DESARROLLA UN DISPOSITIVO PARA DETERMINAR LA CONCENTRACION DE UNA MUESTRA REDOX EN UNA CELULA ELECTROQUIMICA, QUE COMPRENDE: UNA CELULA ELECTROQUIMICA QUE POSEE UN ELECTRODO DE TRABAJO Y UN ELECTRODO OPUESTO (O ELECTRODO OPUESTO/DE REFERENCIA), UN DISPOSITIVO PARA APLICAR UNA DIFERENCIA DE POTENCIAL ELECTRICO ENTRE LOS ELECTRODOS CITADOS, UN DISPOSITIVO PARA MEDIR LA VARIACION DE LA CORRIENTE CON EL TIEMPO, Y QUE SE CARACTERIZA PORQUE EL ELECTRODO DE TRABAJO ESTA SEPARADO DEL ELECTRODO OPUESTO MENOS DE 500 MI M.

Tipo: Resumen de patente/invención.

Solicitante: USF FILTRATION AND SEPARATIONS GROUP INC..

Nacionalidad solicitante: Estados Unidos de América.

Dirección: 2118 GREENSPRINGS DRIVE, TIMONIUM, MARYLAND 21093.

Inventor/es: HODGES, ALASTAIR, MCINDOE, BECK, THOMAS, WILLIAM, JOHANSEN, ODDVAR.

Fecha de Publicación: .

Fecha Solicitud PCT: 19 de Junio de 1996.

Fecha Concesión Europea: 9 de Abril de 2003.

Clasificación Internacional de Patentes:

  • SECCION G — FISICA > METROLOGIA; ENSAYOS > INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION... > Investigación o análisis de materiales mediante... > G01N27/416 (Sistemas (G01N 27/27 tiene prioridad))
  • SECCION G — FISICA > METROLOGIA; ENSAYOS > INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION... > Investigación o análisis de materiales mediante... > G01N27/49 (Sistemas que implican la fijación de la corriente en un valor único específico, o en un pequeño margen de valores, para una tensión aplicada, con el fin de producir la medida selectiva de una o varias especies iónicas particulares)
  • SECCION G — FISICA > METROLOGIA; ENSAYOS > INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION... > Investigación o análisis de materiales mediante... > G01N27/42 (Medida del depósito o de la liberación de materiales de un electrólito; Medida de la capacidad, es decir, medida del equivalente de Coulomb del material en un electrólito)

Países PCT: Austria, Bélgica, Suiza, Alemania, Dinamarca, España, Francia, Reino Unido, Grecia, Italia, Liechtensein, Luxemburgo, Mónaco, Irlanda, Finlandia, Oficina Europea de Patentes, Burkina Faso, Benin, República Centroafricana, Congo, Costa de Marfil, Camerún, Gabón, Guinea, Malí, Mauritania, Niger, Senegal, Chad, Togo, Organización Africana de la Propiedad Intelectual.

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