INSTRUMENTO AVANZADO PARA MEDICION OPTICA DE MUESTRAS.

Instrumento óptico de medición destinado a medición de muestras, que comprende una fuente de iluminación

(211) destinada a formar un rayo de excitación, un primer detector (231a) destinado a detectar un primer rayo de emisión recibido de una primera sustancia de la muestra, un módulo óptico cambiable (240) que dirige el rayo de excitación recibido de la interfaz (218, 223, 233a, 233b, 238) para una fuente de iluminación (211) en la muestra (281) y dirigir el primer rayo de emisión recibido de la primera sustancia de la muestra (281) hacia el primer detector (231a), comprendiendo la interfaz (218, 223, 233a, 233b, 238) además medios (238, 233b) destinado a recibir un segundo rayo de emisión de un modo sustancialmente simultáneo con la recepción del primer rayo de emisión, recibiéndose el segundo rayo de emisión desde una sustancia de la muestra, caracterizado por - un primer módulo óptico (1340) que comprende un primer reflector (1341) destinado a separar las trayectorias ópticas de un rayo de emisión y un rayo de excitación, y un segundo reflector (1342) destinado a separar el rayo de emisión en un primer rayo de emisión y un segundo rayo de emisión, y medios destinados a dirigir el segundo rayo de emisión recibido desde la segunda sustancia de la muestra hacia un segundo detector, en el que el instrumento de medición óptica comprende además unos medios destinados a procesar las señales del primer y segundo detectores a fin de proporcionar los resultados de la medición presentando las cantidades de la primera y segunda sustancias de la muestra, - un segundo módulo óptico (1640) que comprende un primer reflector (1641) destinado a la separación de las trayectorias ópticas de un rayo de emisión y de un rayo de excitación y que no comprende un segundo reflector en la trayectoria del rayo de emisión, y - encontrándose el instrumento adaptado para seleccionar el primer módulo óptico cuando el módulo óptico se utiliza para determinar dos emisiones de la muestra, y para seleccionar el segundo módulo óptico cuando el módulo óptico se utiliza para determinar una emisión de la muestra.

Tipo: Resumen de patente/invención.

Solicitante: WALLAC OY.

Nacionalidad solicitante: Finlandia.

Dirección: P.O. BOX 10,20101 TURKU.

Inventor/es: ARONKYTI, PETRI, HARJU, RAIMO, MYLLYNPAA, ASKO.

Fecha de Publicación: .

Fecha Concesión Europea: 26 de Abril de 2006.

Clasificación Internacional de Patentes:

  • SECCION G — FISICA > METROLOGIA; ENSAYOS > INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION... > Investigación o análisis de los materiales por... > G01N21/64 (Fluorescencia; Fosforescencia)
  • SECCION G — FISICA > METROLOGIA; ENSAYOS > MEDIDA DE LA INTENSIDAD, DE LA VELOCIDAD, DEL ESPECTRO,... > Espectrometría; Espectrofotometría; Monocromadores;... > G01J3/02 (Partes constitutivas)
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