ESTRUCTURA EN CAPAS DE REFLEXION INFRARROJA.

Una estructura en capas de reflexión infrarroja (20, 30), dicha estructura en capas comprendiendo:

- una capa de sustrato transparente (21, 22); - una primera capa de óxido de metal, dicha primera capa de óxido de metal (22, 32) teniendo un grosor entre 25 y 70 nm; - una primera capa que contiene plata (23, 33), dicha primera capa que contiene plata (23, 33) teniendo un grosor entre 10 y 25 nm; - una segunda capa de óxido de metal (24, 34), dicha segunda capa de óxido de metal (24, 34) teniendo un grosor entre 25 y 70 nm; - una segunda capa que contiene plata (25, 35), dicha segunda capa que contiene plata (25, 35) teniendo un grosor entre 10 y 25 nm; - una tercera capa de óxido de metal (26, 36), dicha tercera capa que contiene metal (26, 36) teniendo un grosor entre 25 y 70 nm; el número de capas que contienen plata está limitado a dos; dicha estructura en capas que comprende al menos una capa intermedia (27, 27’, 37, 37’, 39, 39’) que comprende oro, dicha capa intermedia estando localizada entre una capa que contiene plata y una placa de óxido de metal y/o entre una capa de óxido de metal y una capa que contiene plata; dicha capa intermedia está adaptada para incrementar la estabilidad y la durabilidad de dicha capa que contiene plata y para evitar el entremezclado en la interfase de dicha capa que contiene plata y dicha capa de óxido de metal; dicha primera, segunda y tercera capa de óxido de metal teniendo un índice de refracción de al menos

Tipo: Resumen de patente/invención.

Solicitante: N.V. BEKAERT S.A..

Nacionalidad solicitante: Bélgica.

Dirección: BEKAERTSTRAAT 2,8550 ZWEVEGEM.

Inventor/es: PERSOONE, PETER, VLAEMINCK, KOEN, LIEVENS, HUGO.

Fecha de Publicación: .

Fecha Solicitud PCT: 23 de Octubre de 2003.

Fecha Concesión Europea: 31 de Mayo de 2006.

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G02B5/20 FISICA.G02 OPTICA.G02B ELEMENTOS, SISTEMAS O APARATOS OPTICOS (G02F tiene prioridad; elementos ópticos especialmente adaptados para ser utilizados en los dispositivos o sistemas de iluminación F21V 1/00 - F21V 13/00; instrumentos de medida, ver la subclase correspondiente de G01, p. ej. telémetros ópticos G01C; ensayos de los elementos, sistemas o aparatos ópticos G01M 11/00; gafas G02C; aparatos o disposiciones para tomar fotografías, para proyectarlas o para verlas G03B; lentes acústicas G10K 11/30; "óptica" electrónica e iónica H01J; "óptica" de rayos X H01J, H05G 1/00; elementos ópticos combinados estructuralmente con tubos de descarga eléctrica H01J 5/16, H01J 29/89, H01J 37/22; "óptica" de microondas H01Q; combinación de elementos ópticos con receptores de televisión H04N 5/72; sistemas o disposiciones ópticas en los sistemas de televisión en colores H04N 9/00; disposiciones para la calefacción especialmente adaptadas a superficies transparentes o reflectoras H05B 3/84). › G02B 5/00 Elementos ópticos distintos de las lentes (guías de luz G02B 6/00; elementos ópticos lógicos G02F 3/00). › Filtros (elementos polarizantes G02B 5/30; filtros especialmente adaptados para propósitos fotográficos G03B 11/00).

Países PCT: Austria, Bélgica, Suiza, Alemania, Dinamarca, España, Francia, Reino Unido, Grecia, Italia, Liechtensein, Luxemburgo, Países Bajos, Suecia, Mónaco, Portugal, Irlanda, Eslovenia, Finlandia, Rumania, Chipre, Oficina Europea de Patentes, Lituania, Letonia, Ex República Yugoslava de Macedonia, Albania, Armenia, Azerbayán, Bielorusia, Ghana, Gambia, Kenya, Kirguistán, Kazajstán, Lesotho, República del Moldova, Malawi, Mozambique, Federación de Rusia, Sudán, Sierra Leona, Tayikistán, Turkmenistán, República Unida de Tanzania, Uganda, Zimbabwe, Burkina Faso, Benin, República Centroafricana, Congo, Costa de Marfil, Camerún, Gabón, Guinea, Malí, Mauritania, Niger, Senegal, Chad, Togo, Zambia, Organización Regional Africana de la Propiedad Industrial, Swazilandia, Guinea-Bissau, Guinea Ecuatorial, Organización Africana de la Propiedad Intelectual, Organización Eurasiática de Patentes.

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