EQUIPO DE ANALISIS DE IMAGENES.

Un sistema de análisis de imágenes que comprende: una fuente de luz (40); los medios

(42) para iluminar el campo de visión de interés con la fuente de luz; ópticas receptoras (46) para recibir la luz reflejada desde el campo de visión que se va a analizar: un detector de luz de región múltiple (48) para detectar la luz recibida desde las ópticas receptoras, en el que las diferentes regiones del detector de luz se pueden actuar de manera separada; y los medios de procesamiento (56) para medir el tiempo de viaje de las señales de luz desde la fuente de luz a la porción actuada del detector (48) para todas las direcciones iluminadas y las derivar distancias de los tiempos de viaje; caracterizado en que el sistema comprende de manera adicional: electrónica de control (52) para sincronizar la medida del tiempo y la dirección de iluminación de la fuente de luz y la actuación del detector de luz; los medios para generar una alarma si la distancia derivada es inferior a un umbral predeterminado; y un sistema de captura de imágenes (48) para capturar una imagen y presentar la imagen al usuario, el campo de visión del cual se alinea con el campo de visión de los dos detectores de luz dimensionales (48), y en el que los dos detectores de luz dimensiónales (48) se usan como el detector del sistema de captura de imágenes, y la alerta se presenta usando el sistema de captura de imágenes.

Tipo: Resumen de patente/invención.

Solicitante: INSTRO PRECISION LIMITED.

Nacionalidad solicitante: Reino Unido.

Dirección: HORNET CLOSEM PYSONS ROAD INDUSTRIAL ESTATE,BROADSHIRE, KENT CT10 2YD.

Inventor/es: MORCOM, JOHN, INSTRO PRECISION LIMITED.

Fecha de Publicación: .

Fecha Solicitud PCT: 4 de Abril de 2002.

Clasificación Internacional de Patentes:

  • SECCION G — FISICA > CONTROL; REGULACION > SISTEMAS DE CONTROL O DE REGULACION DE VARIABLES... > Control de la posición, del rumbo, de la altitud... > G05D1/02 (Control de la posición o del rumbo por referencia a un sistema de dos dimensiones)

Países PCT: Austria, Bélgica, Suiza, Alemania, Dinamarca, España, Francia, Reino Unido, Grecia, Italia, Liechtensein, Luxemburgo, Países Bajos, Suecia, Mónaco, Portugal, Irlanda, Eslovenia, Finlandia, Rumania, Chipre, Oficina Europea de Patentes, Lituania, Letonia, Ex República Yugoslava de Macedonia, Albania, Armenia, Azerbayán, Bielorusia, Ghana, Gambia, Kenya, Kirguistán, Kazajstán, Lesotho, República del Moldova, Malawi, Mozambique, Federación de Rusia, Sudán, Sierra Leona, Tayikistán, Turkmenistán, República Unida de Tanzania, Uganda, Zimbabwe, Burkina Faso, Benin, República Centroafricana, Congo, Costa de Marfil, Camerún, Gabón, Guinea, Malí, Mauritania, Niger, Senegal, Chad, Togo, Zambia, Organización Regional Africana de la Propiedad Industrial, Swazilandia, Guinea-Bissau, Guinea Ecuatorial, Organización Africana de la Propiedad Intelectual, Organización Eurasiática de Patentes.

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