DISPOSITIVO PARA UN APARATO ANALIZADOR DE PARTICULAS.

Dispositivo para un aparato analizador de partículas, para medir el número de partículas dentro del intervalos de tamaños de partículas limitados por umbrales desplazables, particularmente para un analizador de partículas para el análisis de globulos sanguíneos, estando dotado el analizador de partículas de medios sensores que producen una señal d eléctrica correspondiente al taño de la partícula detectada, caracterizado por la conexión entre sí de los siguientes elementos de funciones: a) un primer comparador

(1) con una alimentación (41a) para la señal eléctrica de un elemtno sensor (40) y otra alimentación (11) de una primera tensión de comparación desde medios (10) para producir esta tensión de comparación, b) un segundo comparador (2) con una alimentación (41b) para la señal eléctrica del elemento sensor (40) y otra alimentación (21a) , 21b) de una segunda tensión de comparación desde medios (20) para producir esta tensión de comparación, c) medios (100) para la modificación simultánea de la primera y de la segunda tensión de comparación con el mismo valor, d) medios (30) para producir una tercera tensión de comparación y e) un conmutador (5) en la alimentación (21a,21b) de la segunda tensión de comparación hacia el segundo comparador (2) para la conmutación a una alimentación ( 31,21a) desde los medios (30) para producir la tercera tensión de comparación, así como f) medios (6) para retardar la señal de salida en la alimentación (12) desde el primer comparador (1) y g) medios (7) para la discriminación de una operación 0 con una alimentación (61) desde el elemento (6) de retardo y con otra alimentación (22) desde el segundo comparador (2) , así como un h) contador (8) de impulsos con una alimentación (71) desde el discriminador (7) de operación 0

Tipo: Resumen de patente/invención.

Solicitante: CONTRAVES AG.

Nacionalidad solicitante: Suiza.

Dirección: SCHAFFHAUSERSTRASSE 580, 8052 ZURICH.

Fecha de Solicitud: 24 de Enero de 1980.

Fecha de Publicación: .

Fecha de Concesión: 1 de Octubre de 1980.

Clasificación Internacional de Patentes:

  • SECCION G — FISICA > METROLOGIA; ENSAYOS > INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION... > Investigación de características de partículas;... > G01N15/12 (Contadores del tipo Coulter)
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