DISPOSITIVO PARA LA INSPECCION DEL FILO DE CUCHILLAS DE AFEITAR.

Un aparato (24) para controlar continuamente el borde afilado (21) de una banda

(14) de un material de cuchillas, en el que el citado aparato (24) comprende unos medios de guía (69) dispuesto para guiar la banda (14) del material de cuchillas que pasa a través del aparato, que se caracteriza por un primer sistema de láser y por un segundo sistema de láser, en el que el citado segundo sistema de láser se encuentra en proximidad cercana al citado primer sistema de láser, por lo que el primer sistema de láser comprende un primer detector (40a) de láser que incluye un primer proyector (70) dispuesto para proyectar un primer haz de láser al borde (21) en una dirección perpendicular a la dirección de movimiento de la banda (14) y perpendicular al borde (21) y un primer detector de perfil (72) dispuesto para detectar una porción del primer haz de láser que pasa sobre el borde (21) y dispuesto para generar una primera señal que representa la porción detectada del primer haz de láser; y el segundo sistema de láser comprende un segundo detector (40b) de láser, incluyendo un segundo proyector (70) dispuesto para proyectar un segundo haz de láser al borde (21) en una dirección perpendicular a la dirección de movimiento de la banda (14), y perpendicular al borde de corte (21) y un segundo detector de perfil (72) para detectar una porción del segundo haz de láser que pasa sobre el borde (21) y para generar una segunda señal que representa la porción detectada del segundo haz de láser, en el que el primer proyector (70) de láser y el segundo proyector (70´) de láser se encuentran dispuestos a lados opuestos de la banda (14).

Tipo: Resumen de patente/invención.

Solicitante: THE GILLETTE COMPANY.

Nacionalidad solicitante: Estados Unidos de América.

Dirección: PRUDENTIAL TOWER BUILDING,BOSTON, MASSACHUSETTS 02199.

Inventor/es: KIRBY, GEORGE J., BORGESON, ARTHUR B., EWING, JON F.

Fecha de Publicación: .

Fecha Concesión Europea: 19 de Enero de 2005.

Clasificación Internacional de Patentes:

  • SECCION G — FISICA > METROLOGIA; ENSAYOS > INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION... > Investigación o análisis de los materiales por... > G01N21/89 (en un material móvil, p. ej. del papel, de tejidos (G01N 21/90, G01N 21/91, G01N 21/94 tienen prioridad))
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