DETECCION DE PARAMETROS DE UNA INSTALACION POR VIGILANCIA DE LAS DENSIDADES ESPECTRALES DE POTENCIA.

SE DESCRIBE UN METODO PARA DETERMINAR SI EL ESTADO ELECTRICO DE UNA SEÑAL VARIABLE EMITIDA POR UN PROCESO SE ENCUENTRA DENTRO DE UNOS LIMITES ACEPTABLES.

EL METODO CONSTA DE LAS SIGUIENTES ETAPAS: OBTENCION DE DATOS DE REFERENCIA POR MUESTREO DE UNA SEÑAL VARIABLE EMITIDA POR UN PROCESO CUANDO LA PLANTA ESTA FUNCIONAMIENTO EN ESTADO ESTABLE Y ANALISIS DE LA SEÑAL MUESTREADA PARA DERIVAR DATOS DE REFERENCIA NORMALIZADOS, COMO CONTENIDO DE ENERGIA DE CADA UNO DE LOS DISTINTOS COMPONENTES DE FRECUENCIA DE DICHA SEÑAL. ESTE PROCEDIMIENTO PERMITE CREAR UNA BASE DE DATOS OPERATIVA ELECTRICA MEDIANTE MUESTREO DE LA SEÑAL VARIABLE DE UN PROCESO CUANDO LA PLANTA ESTA FUNCIONANDO. LA SEÑAL MUESTREADA SE ANALIZA PARA OBTENER DATOS ELECTRICOS, COMO EL CONTENIDO NORMALIZADO DE ENERGIA DE CADA UNO DE LOS DISTINTOS COMPONENTES DE LA FRECUENCIA. PARA CADA COMPONENTE DE LA FRECUENCIA DE LOS DATOS DE REFERENCIA Y LOS DATOS SOBRE LA CORRIENTE, EL PROCEDIMIENTO COMPARA SU CONTENIDO DE ENERGIA NORMALIZADO Y EMITE UNA SEÑAL DE ESTADO NO ESTABLE SI LA COMPARACION INDICA QUE EL CONTENIDO DE ENERGIA COMPARADO SOBREPASA UN LIMITE ESTABLECIDO PREVIAMENTE.

Tipo: Resumen de patente/invención.

Solicitante: EXXON CHEMICAL PATENTS INC..

Nacionalidad solicitante: Estados Unidos de América.

Dirección: 5200 BAYWAY DRIVE,BAYTOWN, TX 77520-5200.

Inventor/es: BARTUSIAK, RAYMOND, DONALD, NICHOLSON, DOUGLAS, HUGH.

Fecha de Publicación: .

Fecha Solicitud PCT: 7 de Diciembre de 1995.

Fecha Concesión Europea: 12 de Julio de 2000.

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G01R23/16 FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01R MEDIDA DE VARIABLES ELECTRICAS; MEDIDA DE VARIABLES MAGNETICAS (indicación de la sintonización de circuitos resonantes H03J 3/12). › G01R 23/00 Dispositivos para realizar medidas de frecuencia; Dispositivos para realizar análisis de espectros de frecuencia. › Análisis de espectros; Análisis de Fourier.

Países PCT: Bélgica, Alemania, España, Francia, Reino Unido, Italia, Países Bajos, Suecia, Oficina Europea de Patentes.

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