APARATO DE MICROSCOPIO CONFOCAL Y METODO CORRESPONDIENTE.

Un aparato de microscopía confocal que comprende medios (4) para dirigir luz a una muestra

(O); una máscara (6) para codificar luz incidente sobre la muestra y para decodificar luz proveniente de la muestra; y uno o más detectores de imagen (7, 11) para detectar unas imágenes primera y segunda de la muestra, consistiendo la primera imagen en una imagen confocal superpuesta sobre una imagen no confocal y consistiendo la segunda imagen en una imagen no confocal de la cual se ha retirado una imagen confocal, caracterizado porque la máscara (6), que tiene superficies opuestas primera (6a) y segunda (6b), tiene una estructuración transparente/opaca sobre su primera superficie (6a) con la finalidad de codificar, mediante modulación espacial de su intensidad, luz incidente sobre esta superficie y transmitida a través de la máscara, y una estructuración reflexiva sobre la segunda superficie (6b) que es sustancialmente idéntica a la estructuración opaca sobre la primera superficie con la finalidad de codificar luz incidente sobre la segunda superficie y reflejada desde la misma al contrario que la codificación proporcionada por la estructuración transparente/opaca, con lo que una de las superficies primera (6a) y segunda (6b) de la máscara genera la primera imagen de la muestra y la otra de las superficies primera (6a) y segunda (6b) de la máscara genera la segunda imagen de la muestra.

Tipo: Resumen de patente/invención.

Solicitante: ISIS INNOVATION LIMITED.

Nacionalidad solicitante: Reino Unido.

Dirección: EWERT HOUSE, EWERT PLACE,SUMMERTOWN, OXFORD OX2 7BZ.

Inventor/es: WILSON, TONY, NEIL, MARK ANDREW AQUILLA, JUSKAITIS, RIMVYDAS.

Fecha de Publicación: .

Fecha Solicitud PCT: 17 de Enero de 2000.

Fecha Concesión Europea: 4 de Septiembre de 2002.

Clasificación Internacional de Patentes:

  • SECCION G — FISICA > OPTICA > ELEMENTOS, SISTEMAS O APARATOS OPTICOS (G02F tiene... > G02B21/00 (Microscopios (oculares G02B 25/00; sistemas polarizantes G02B 27/28; microscopios de medida G01B 9/04; micrótomos G01N 1/06;   técnicas o aparatos de sonda de barrido G01Q))

Países PCT: Austria, Bélgica, Suiza, Alemania, Dinamarca, España, Francia, Reino Unido, Grecia, Italia, Liechtensein, Luxemburgo, Países Bajos, Suecia, Mónaco, Portugal, Irlanda, Eslovenia, Finlandia, Rumania, Chipre, Oficina Europea de Patentes, Lituania, Letonia, Ex República Yugoslava de Macedonia, Albania.

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