ANALIZADOR AUTOMATICO Y METODO DE PRESENTACION.

SE PRESENTA UN PEQUEÑO ANALIZADOR AUTOMATICO EN EL CUAL SE DISPONEN UN DISCO DE ESPECIMENES

(12) Y UN DISCO DE REACTIVOS (22) EN DIFERENTES POSICIONES EN UN AREA LATERAL DE UNA SUPERFICIE SUPERIOR DE UN ALOJAMIENTO DEL ANALIZADOR (40), DISPONIENDOSE UN DISCO DE REACCION (3) POR DETRAS DEL DISCO DE ESPECIMENES (12) ENTRE EL DISCO DE ESPECIMENES Y EL DISCO DE REACTIVOS (22), UNA UNIDAD DE EXTRACCION Y DE INYECCION DE ESPECIMENES (14) ENTRE EL DISCO DE REACCION (3) Y EL DISCO DE ESPECIMENES (12), Y UNA UNIDAD DE EXTRACCION Y DE INYECCION DE REACTIVOS (24) ENTRE EL DISCO DE REACCION (3) Y EL DISCO DE REACTIVOS (22), DISPONIENDOSE LAS UNIDADES DE EXTRACCION Y DE INYECCION DE ESPECIMENES Y DE REACTIVOS (14 Y 24) EN DIRECCION OBLICUA, TENIENDO EL DISCO DE REACCION (3), EL DISCO DE ESPECIMENES (12) Y EL DISCO DE REACTIVOS (22) CADA UNO UNA CUBIERTA SEPARADA, Y DISPONIENDO LA UNIDAD DE EXTRACCION E INYECCION DE ESPECIMENES (14) Y LA UNIDAD DE EXTRACCION E INYECCION DE ESPECIMENES (24) UNA CUBIERTA COMUN PARA LAS MISMAS.

Tipo: Resumen de patente/invención.

Solicitante: HITACHI, LTD..

Nacionalidad solicitante: Japón.

Dirección: 6, KANDA SURUGADAI 4-CHOME,CHIYODA-KU, TOKYO 101-0062.

Inventor/es: KATAYAMA,ATSUSHI, OHNUMA, MITSURU, TAKEKOSHI, ISAMU, SINDO, ISAO, SHIRAISHI, KAHEI, SATOH, HIROMICHI.

Fecha de Publicación: .

Fecha Solicitud PCT: 3 de Septiembre de 1996.

Fecha Concesión Europea: 24 de Noviembre de 2004.

Clasificación Internacional de Patentes:

  • SECCION G — FISICA > METROLOGIA; ENSAYOS > INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION... > G01N35/00 (Análisis automático no limitado a procedimientos o a materiales tratados en uno sólo de los grupos G01N 1/00 - G01N 33/00; Manipulación de materiales a este efecto)

Países PCT: Alemania, España, Francia, Italia, Oficina Europea de Patentes.

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