METODO PARA DETERMINAR EL PERFIL DE UNA SUPERFICIE DE UN OBJETO.
Un método de determinar un perfil superficial de un objeto conductor eléctrico (2),
usando una sonda (4) incluyendo un transmisor (6) que está adaptado para inducir corrientes parásitas transitorias en el objeto, y un receptor (8) que está adaptado para proporcionar una señal indicativa de la intensidad de un campo magnético o cambios de la intensidad de un campo magnético, formando el transmisor (6) y el receptor (8) un dispositivo transmisor/receptor, incluyendo el método los pasos de: (a) seleccionar un punto de calibración (20) en la superficie, y seleccionar un número de posiciones de calibración (22a, 22b, 22c) del dispositivo transmisor/receptor (8) con relación al punto de calibración (20); (b) determinar un conjunto de valores de calibración determinando, para cada una de las posiciones de calibración (22a, 22b, 22c), un valor característico de la señal generada en el receptor en respuesta a corrientes parásitas transitorias inducidas en el objeto por el transmisor, donde el valor característico se refiere a la amplitud de la señal; (c) determinar una función de calibración que relaciona los valores de calibración con la posición relativa de posición de calibración (22a, 22b, 22c) y el punto de calibración (20); (d) seleccionar un conjunto de puntos de inspección (30a, 30b, 30c, 30d) en la superficie del objeto, y seleccionar un conjunto de posiciones de inspección (32a, 32b, 32c, 32d) del dispositivo transmisor/receptor en correspondencia al conjunto de puntos de inspección (30a, 30b, 30c, 30d); (e) determinar un conjunto de valores de inspección determinando, para cada una de las posiciones de inspección (32a, 32b, 32c, 32d), un valor característico de la señal generada en el receptor en respuesta a corrientes parásitas transitorias inducidas en el objeto por el transmisor (6); y (f) determinar el perfil superficial interpretando el conjunto de valores de inspección, donde la función de calibración se toma en cuenta, y donde se deriva la posición relativa de puntos de inspección (30a, 30b, 30c, 30d) y las posiciones de inspección correspondientes (32a, 32b, 32c, 32d).
Tipo: Resumen de patente/invención.
Solicitante: SHELL INTERNATIONALE RESEARCH MAATSCHAPPIJ B.V..
Nacionalidad solicitante: Países Bajos.
Dirección: CAREL VAN BYLANDTLAAN 30,2596 HR.
Inventor/es: CROUZEN, PAULUS, CAROLUS, NICOLAAS.
Fecha de Publicación: .
Fecha Solicitud PCT: 26 de Febrero de 2003.
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01B7/28 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01B MEDIDA DE LA LONGITUD, ESPESOR O DIMENSIONES LINEALES ANALOGAS; MEDIDA DE ANGULOS; MEDIDA DE AREAS; MEDIDA DE IRREGULARIDADES DE SUPERFICIES O CONTORNOS. › G01B 7/00 Disposiciones de medida caracterizadas por la utilización de medios eléctricos o magnéticos. › para la medida de contornos o curvaturas.
- G01N27/90 G01 […] › G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › G01N 27/00 Investigación o análisis de materiales mediante el empleo de medios eléctricos, electroquímicos o magnéticos (G01N 3/00 - G01N 25/00 tienen prioridad; medida o ensayo de variables eléctricas o magnéticas o de las propiedades eléctricas o magnéticas de los materiales G01R). › utilizando corrientes de Foucault.
Países PCT: Austria, Bélgica, Suiza, Alemania, Dinamarca, España, Francia, Reino Unido, Grecia, Italia, Liechtensein, Luxemburgo, Países Bajos, Suecia, Mónaco, Portugal, Irlanda, Eslovenia, Finlandia, Rumania, Chipre, Oficina Europea de Patentes, Lituania, Letonia, Ex República Yugoslava de Macedonia, Albania, Armenia, Azerbayán, Bielorusia, Ghana, Gambia, Kenya, Kirguistán, Kazajstán, Lesotho, República del Moldova, Malawi, Mozambique, Federación de Rusia, Sudán, Sierra Leona, Tayikistán, Turkmenistán, República Unida de Tanzania, Uganda, Zimbabwe, Burkina Faso, Benin, República Centroafricana, Congo, Costa de Marfil, Camerún, Gabón, Guinea, Malí, Mauritania, Niger, Senegal, Chad, Togo, Zambia, Organización Regional Africana de la Propiedad Industrial, Swazilandia, Guinea-Bissau, Guinea Ecuatorial, Organización Africana de la Propiedad Intelectual, Organización Eurasiática de Patentes.
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