12 inventos, patentes y modelos de LOZANO FANTOBA,MANUEL

  1. 1.-

    DISPOSITIVO MULTIPLICADOR DE ELECTRONES MICROMECANIZADO Y PARA DETECCIÓN DE PARTÍCULAS IONIZANTES,SISTEMA DE DETECCIÓN DE PARTÍCULAS IONIZANTES Y MÉTODO DE FABRICACIÓN DEL DISPOSITIVO

    (09/2015)

    Dispositivo multiplicador de electrones micromecanizado para detección de partículas ionizantes, sistema de detección de partículas ionizantes y método de fabricación del dispositivo. Dispositivo multiplicador de electrones micromecanizado y apilable para la detección de partículas ionizantes que comprende un sustrato sólido con una cavidad central micromecanizada en el centro de la cara inferior del sustrato definiendo un contorno perimétrico de soporte del sustrato alrededor de la cavidad y una pluralidad de orificios pasantes micromecanizados situados en correspondencia con la cavidad ; una primera capa dieléctrica aislante...

  2. 2.-

    DISPOSITIVO MULTIPLICADOR DE ELECTRONES MICROMECANIZADO PARA DETECCIÓN DE PARTÍCULAS IONIZANTES, SISTEMA DE DETECCIÓN DE PARTÍCULAS IONIZANTES Y MÉTODO DE FABRICACIÓN DEL DISPOSITIVO

    (08/2015)
    Ver ilustración. Solicitante/s: CONSEJO SUPERIOR DE INVESTIGACIONES CIENTIFICAS (CSIC). Clasificación: B81C1/00, B81B1/00, G01T1/16, H01J47/02.

    Dispositivo multiplicador de electrones micromecanizado y apilable para la detección de partículas ionizantes que comprende un sustrato sólido con una cavidad central micromecanizada en el centro de la cara inferior del sustrato definiendo un contorno perimétrico de soporte del sustrato alrededor de la cavidad y una pluralidad de orificios pasantes micromecanizados situados en correspondencia con la cavidad ; una primera capa dieléctrica aislante depositada sobre todas las superficies del sustrato solido; un primer electrodo metálico de polarización situado sobre la cara superior de la primera capa eléctrica aislante ; y un segundo electrodo metálico de polarización situado sobre la cara inferior de la primera capa eléctrica aislante.

  3. 3.-

    MICRODOSIMETRO BASADO EN ESTRUCTURAS 3D DE SEMICONDUCTOR, PROCEDIMIENTO DE FABRICACIÓN DE DICHO MICRODOSIMETRO Y USO DE DICHO MICRODOSIMETRO

    (08/2015)
    Ver ilustración. Solicitante/s: CONSEJO SUPERIOR DE INVESTIGACIONES CIENTIFICAS (CSIC). Clasificación: B81C1/00, B81B7/04, G01T1/02, H01L31/115.

    La invención comprende un microdosímetro formado por celdas que forman una matriz, donde en el interior de cada celda hay un volumen sensible a la radiación, que se fabrica sobre semiconductores mediante procesos tridimensionales que definen los componentes de una unión PN para asegurar que se delimita con precisión de pocas ¿¿¿ un volumen sensible similar al volumen medio del núcleo celular, de aproximadamente igual o menor a 10 ¿m de diámetro, donde el sustrato donde está fabricada la celda es una oblea de semiconductor y la celda tiene un diámetro de entre 5 y 150 ¿m y una profundidad de entre 1 y 300 ¿m.. Además la invención indica procedimientos de fabricación de diferentes configuraciones que pueden presentar estos microdosímetros, y su uso para detección de radiación en diferentes campos incluyendo aplicaciones médicas y aeroespaciales.

  4. 4.-

    DETECTOR LIQUIDO-SEMICONDUCTOR DE NEUTRONES

    (06/2014)

    Detector líquido-semiconductor de neutrones. La presente invención se refiere a un detector líquido-semiconductor de neutrones caracterizado porque comprende una estructura híbrida constituida por una fase sólida y una fase líquida, donde la fase sólida comprende un sustrato de un material semiconductor que se caracteriza por presentar una serie de hendiduras a lo largo de la superficie de una de sus caras que constituyen un electrodo del detector, y donde la fase líquida se encuentra embebida en dichas hendiduras y se caracteriza por comprender al menos un compuesto conversor de neutrones que contiene al menos un isótopo capaz de capturar neutrones y producir en su lugar partículas cargadas adecuadas para...

  5. 5.-

    DETECTOR LIQUIDO-SEMICONDUCTOR DE NEUTRONES

    (05/2014)
    Ver ilustración. Solicitante/s: CONSEJO SUPERIOR DE INVESTIGACIONES CIENTIFICAS (CSIC). Clasificación: G01T3/08.

    La presente invención se refiere a un detector líquido-semiconductor de neutrones caracterizado por que comprende una estructura híbrida constituida por una fase sólida y una fase líquida, donde la fase sólida comprende un sustrato de un material semiconductor que se caracteriza por presentar una serie de hendiduras a lo largo de la superficie de una de sus caras que constituyen un electrodo del detector, y donde la fase líquida se encuentra embebida en dichas hendiduras y se caracteriza por comprender al menos un compuesto conversor de neutrones que contiene al menos un isótopo capaz de capturar neutrones y producir en su lugar partículas cargadas adecuadas para ionizar el material semiconductor. Asimismo es objeto de la invención el proceso de fabricación de dicho detector y su uso.

  6. 6.-

    PROCEDIMIENTO PARA EL DEPOSITO DE CAPAS GRUESAS DE BORO

    (05/2014)

    Procedimiento para el depósito de capas gruesas de boro. Procedimiento de depósito de una capa de boro sobre un substrato mediante evaporación física con haz de electrones, caracterizado porque comprende: a) obtener un substrato limpiado que comprende una primera capa de adhesión, b) proteger el substrato, c) alcanzar un vacio mínimo de 5x10-6 mbar, d) calentar el substrato a una temperatura mínima de 115ºC, e) depositar 10B mediante EBPVD sin que haya fragmentos de boro de tamaño inferior a 0,25 mm y manteniendo el cono de evaporación enfocado, f) depositar otra capa de adhesión...

  7. 7.-

    PROCEDIMIENTO PARA EL DEPÓSITO DE CAPAS GRUESAS DE BORO

    (04/2014)
    Ver ilustración. Solicitante/s: CONSEJO SUPERIOR DE INVESTIGACIONES CIENTIFICAS (CSIC). Clasificación: C23C14/30, C01B35/02.

    Procedimiento de depósito de una capa de boro sobre un substrato mediante evaporación física con haz de electrones, caracterizado porque comprende: a) obtener un substrato limpiado que comprende una primera capa de adhesión, b) proteger el substrato, c) alcanzar un vacío mínimo de 5x10.

  8. 8.-

    DETECTOR DE RADIACIÓN IONIZANTE SENSIBLE A LA POSICION 2D

    (08/2012)

    Detector de radiación ionizante sensible a la posición 2D. El objeto de la presente invención es un dispositivo detector que permite detectarla, tanto la presencia de radiación ionizante como su posición en un plano bidimensional. El detector comprende un cristal de semiconductor con un electrodo en una de sus caras, y donde la cara opuesta comprende otro electrodo formado por una pluralidad de micropistas (P1-P6), caracterizado porque cada micropista (P1-P 6) comprende una capa de material resistivo y está conectada por ambos extremos a circuitos de lectura (L1a, L1b-L6a, L6b).

  9. 9.-

    SISTEMA DE LECTURA COMPLETO Y PORTÁTIL PARA SENSORES DE RADIACIÓN DE TIPO MICROPISTAS

    (07/2012)

    1. Sistema de lectura compacto y portátil para sensores de radiación de tipo micropistas en substrato de silicio caracterizado porque comprende: - un ordenador de control que almacena y procesa unos datos adquiridos; - una placa hija con un chip de lectura y un soporte intercambiable con un detector objeto de una caracterización; - una placa madre con una electrónica de conversión y procesado con su propio sistema de alimentación, comunicación con un ordenador vía USB, una FPGA que interpreta y ejecuta las órdenes que llegan desde el ordenador, una entrada de disparo externo y una salida de disparo externo de pulsos para una fuente de...

  10. 10.-

    DISPOSITIVO HIBRIDO MODULAR PARA LA LECTURA DE MATRICES DE SENSORES DE IMAGEN

    (12/2008)

    Dispositivo híbrido modular para la lectura de matrices de sensores de imagen.#La presente invención se refiere a circuitos integrados de lectura (ROICs) de matrices de sensores de imagen de plano focal. La invención introduce una nueva estrategia de encapsulado híbrido especialmente modular, ya que la matriz de lectura se construye mediante la interconexión de circuitos integrados idénticos e intercambiables entre sí formando un mosaico de la misma dimensión que el plano focal. La invención también plantea una organización de las conexiones del híbrido que permite independizar totalmente la tecnología...

  11. 11.-

    SISTEMA DIGITAL PARA REALIZAR BIOPSIA ESTEREOTAXICA

    (07/2007)
    Ver ilustración. Solicitante/s: UDIAT CENTRE DIAGNOSTIC, S.A. INSTITUT DE FISICA D'ALTES ENERTIES (IFAE) CONSEJO SUPERIOR DE INVESTIGACIONES CIENTIFICAS (CSIC). Clasificación: A61B10/00, A61B6/02.

    Sistema digital para realizar biopsias estereotáxicas con una aguja de biopsia, comprendiendo dicho sistema una serie de dispositivos para: emitir rayos X, detectar y transformar fotones de rayos X en señales eléctricas, posicionar una muestra de tejido entre la fuente de rayos X y el detector, procesar las señales eléctricas y generar imágenes. El sistema bien puede disponer de una serie de dispositivos complementarios a los mencionados, bien puede disponer de unos medios de posicionamiento para situar en dos posiciones los dispositivos mencionados y obtener imágenes según dos orientaciones.

  12. 12.-

    SISTEMA DE ALINEAMIENTO DE OBLEAS Y DE LECTURA DE MICROCODIGOS DE BARRAS Y DE MARCAS EN CHIPS CON LASER.

    (03/2005)
    Ver ilustración. Solicitante/s: CONSEJO SUP. INVESTIGACIONES CIENTIFICAS. Clasificación: G01R31/26, H01L21/68.

    Sistema de alineamiento de obleas y de lectura de microcódigos de barras y de marcas en chips con láser. La invención es un sistema para leer marcas del tamaño de micras en obleas de semiconductor, adaptable a estaciones de prueba para medirlas. Estas pueden ser códigos de barras conteniendo información o marcas especiales para el alineamiento de los ejes de los chips en la oblea con respecto a los ejes de movimiento X e Y de la estación. Consiste en un sistema lector láser de los utilizados en reproductores de CD y permite resolución de micrómetros. El sistema de lectura está fijo y es la oblea, gracias a los motores de la estación de pruebas, quién se mueve. Las ventajas son su simplicidad, puede adaptarse a cualquier estación de pruebas existente y resulta muy barato. Además permite la lectura de microcódigos de barras, conteniendo información relevante de cada chip.