9 inventos, patentes y modelos de DOEMENS, GUNTER, DR.

CONFIGURACION Y PROCEDIMIENTO PARA LA MEDICION SIMULTANEA DE LA VELOCIDAD ASI COMO DE LA FORMA DE LA SUPERFICIE DE OBJETOS QUE SE MUEVEN.

Sección de la CIP Física

(19/11/2009). Ver ilustración. Solicitante/s: SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT. Clasificación: G01S17/58, G08G1/04, G08G1/015, G01S17/89, G01S7/48A, G01S7/48, G01S7/481.

Configuración para medir la velocidad o la forma de la superficie de objetos que se han movido o una combinación de ello en base a mediciones de retardo de la luz, caracterizada por - al menos dos filas de sensores de semiconductor ópticos representados, de un conjunto de elementos de sensor de resolución de lugar, distanciados entre sí y orientados en paralelo, así como dispuestos transversalmente respecto a la dirección de marcha de los objetos , con los que pueden tomarse perfiles de distancia de los objetos , - al menos una fuente de luz posicionada en la zona de las filas de sensores de semiconductor para iluminar el objeto con impulsos de luz.

SISTEMA DE SENSORES PARA LA DETERMINACION DE LA POSICION DE UN OCUPANTE EN VEHICULOS.

(16/05/2005) Sistema de sensores para determinar la posición de un cinturón de seguridad, en particular para la determinación de la posición de un ocupante en vehículos, compuesto por: - un sistema de al menos un conductor eléctrico extendido longitudinalmente para generar al menos un campo magnético que se reduce de forma definida, de forma axial transversalmente al aumentar el radio, - al menos un sensor de campo magnético que detecta la intensidad de un campo magnético , determinando el sistema de sensores la distancia (d) entre el sensor de campo magnético y el conductor eléctrico, - estando alojado bien el conductor eléctrico extendido longitudinalmente, de los que al menos existe uno, o bien al menos un sensor de campo magnético en el cinturón de seguridad …

PROCEDIMIENTO PARA LA IDENTIFICACION TRIDIMENSIONAL DE OBJETOS.

Sección de la CIP Física

(16/07/2004). Solicitante/s: SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT. Clasificación: G06K9/00, G07C9/00.

Los sistemas de seguridad conocidos que, por ejemplo, detectan y verifican lascaracterísticas de los rostros para proporcionar una autorización de acceso, actualmente se basan en la evaluación de imágenes grises bidimensionales. La detección suplementaria y la evaluación de la forma tridimensional del rostro mejoran decisivamente la fiabilidad de la identificación. Utilizando un conjunto digital de microespejos se ejecuta una iluminación codificada en diferentes colores y se determina la topografía del rostro mediante el procesado de imágenes en color, con el fin de recoger información en un periodo corto de tiempo sin aumentar sustancialmente el coste del sistema de identificación.

SISTEMA DE MEDICION DE LA DISTANCIA DE RESOLUCION LOCAL.

Sección de la CIP Física

(01/03/2004). Solicitante/s: SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT. Clasificación: G01S7/481, G01S17/89.

Sistema de medición de la distancia, con el que se pueden realizar mediciones del tiempo de propagación de la luz por puntos de imagen, que está constituido por: - una disposición uni o bidimensional de fuentes de luz que pueden ser moduladas, - un convertidor de imágenes en estado sólido con elementos de recepción , que presentan, con respecto a la disposición una correspondencia con las fuentes de luz , - una óptica para la conducción de los rayos de iluminación y de los rayos de reproducción entre fuentes de luz que pueden ser activadas en serie, de forma individual o por grupos, con puntos de objetos correspondientes y con elementos de recepción activados de manera correspondiente a las fuentes de luz , donde la distancia desde cada punto de objeto hacia el elemento de recepción correspondiente del convertidor de imágenes en estado sólido se puede determinar con la ayuda de una medición del tiempo de propagación de la luz.

DISPOSICION PARA LA TRANSMISION INDUCTIVA SIN CONTACTO DE MAGNITUDES ELECTRICAS DE MEDICION Y/O ENERGIA ELECTRICA ENTRE UN ROTOR Y UN ESTATOR.

(01/07/2003) LAS DISPOSICIONES CONOCIDAS ABARCAN AL MENOS UNA BOBINA (RS) DE ROTOR APLICADA SOBRE EL ROTOR Y AL MENOS UNA BOBINA (SS) DE ESTATOR DISPUESTA SOBRE EL ESTATOR (ST). LA BOBINA (RS) DE ROTOR Y LA BOBINA (SS) DE ESTATOR TIENEN AL MENOS UN ARROLLAMIENTO (WI) CADA UNA DE ELLAS Y ESTAN ACOPLADAS MAGNETICAMENTE. CON UNA DISPOSICION DE ESTE TIPO, LAS MAGNITUDES DE MEDICION A PARTIR DE UN SENSOR (MA) DISPUESTO SOBRE EL ROTOR (RO) PUEDEN SER, POR EJEMPLO, TRANSMITIDAS PARA PAR DE MEDICION SIN CONTACTO. PARA CAPTAR TAMBIEN LA POSICION ANGULAR MOMENTANEA Y/O LA VELOCIDAD ANGULAR ( OE ) MOMENTANEA DEL ROTOR (RO) SIN NINGUN EQUIPAMIENTO ADICIONAL, EL PERFIL Y/O EL MATERIAL DEL CONDUCTOR QUE FORMA EL ARROLLAMIENTO…

SENSOR DE FUERZA O DE ALARGAMIENTO.

(01/09/2000) LA INVENCION SE REFIERE A UNA SENSOR DE FUERZA O DILATACION, DISPONIENDO DE UN CONDENSADOR (MK) DE MEDICION DEL QUE LAS ESTRUCTURAS (ES1, ES2) DE ELECTRODO DE INTERBLOQUEO, CON ESTRUCTURA SIMILAR A PEINE, PUEDEN SER MOVIDAS DE FORMA PARALELA UNA CON RESPECTO A OTRA A TRAVES DE DOS PUNTOS (BP,1 BP2) DE SEGURIDAD COMO UNA FUNCION DE LA FUERZA (F) O DE LA DILATACION ({EP}) A SER MEDIDA. LA CAPACIDAD TOTAL DEL CONDENSADOR (MK) DE MEDICION SE DETERMINA POR MEDIO DE UN ENSAMBLE PARALELO DE PARES DE ELECTRODOS INDIVIDUALES. UNA VARIACION EN LA CAPACIDAD TOTAL DEL CONDENSADOR (MK) DE MEDICION, ORIGINADA MEDIANTE UNA VARIACION EN LA DISTANCIA (D1) ENTRE LOS ELECTRODOS, SUMINISTRA INFORMACION ACERCA DE LA FUERZA (F) O DILATACION ({EP}) A SER MEDIDA. UNA VARIACION…

SENSOR DE FUERZA O DE ALARGAMIENTO.

(16/06/1999) LA INVENCION SE REFIERE A UN SENSOR DE FUERZA O DILATACION, DISPONIENDO DE UN CONDENSADOR (MK) DE MEDICION CUYAS ESTRUCTURAS (ES1, ES2) DE ELECTRODOS DE INTERBLOQUEO, SIMILAR A ESTRUCTURA DE PEINE, DEBEN SER DESPLAZADAS DE FORMA PARALELA UNA CON OTRA A TRAVES DE DOS PUNTOS (BP1, BP2) DE SEGURIDAD COMO UNA FUNCION DE LA FUERZA (F) O DE LA DILATACION ({EP}) A SER MEDIDA. LA CAPACIDAD TOTAL DEL CONDENSADOR (MK) DE MEDICION SE DETERMINA MEDIANTE UN ENSAMBLE PARALELO DE PARES DE ELECTRODOS INDIVIDUALES. UNA VARIACION EN LA CAPACIDAD TOTAL DEL CONDENSADOR (MK) DE MEDICION, ORIGINADO MEDIANTE UNA VARIACION EN LA DISTANCIA (D1) ENTRE LOS ELECTRODOS, SUMINISTRA INFORMACION ACERCA DE LA FUERZA (F) O DE LA DILATACION ({EP}) A SER MEDIDA. LOS PUNTOS (BP1, BP2) DE SEGURIDAD ESTAN LOCALIZADOS EN UNA LINEA (V1) DE UNION QUE ES…

PROCEDIMIENTO PARA RECONOCER LA POSICION ESPACIAL Y ORIENTACION DE CUERPOS ANTERIORMENTE CONOCIDOS.

(01/03/1994) EL METODO CONOCIDO DE RECONOCIMIENTO DE MUESTRAS MEDIANTE EL TRATAMIENTO DE IMAGEN GRIS LLEGA A SUS LIMITES EN ALGUNOS DE LAS APLICACIONES INDUSTRIALES DE HOY. YA ES USUAL LA APLICACION DEL PROCEDIMIENTO DE TRIANGULACION Y EL USO DE SENSORES 3D Y ESCANERS LASER. CON ELLO SE PRODUCEN DATOS DE IMAGENES TRIDIMENSIONALES. PARA RECONOCER LA POSICION Y LA ORIENTACION DE UN CUERPO CUALQUIERA ANTERIORMENTE CONOCIDO RESPECTO AL SISTEMA DE COORDENADAS GENERAL CARTESIANO (X, Y, Z) ESTE INVENTO UTILIZA CRITERIOS DE EVALUACION QUE SIEMPRE SE BASAN EN UNA MULTITUD DE PUNTOS EXISTENTES Y POR LO TANTO DEPENDEN DE MEDICIONES ERRONEAS INDIVIDUALES.…

TOMA DE MEDICION PARA MODIFICACIONES DE LONGITUDES Y DESTANCIAMIENTOS, SOBRE TODO PARA MEDICIONES SON CONTACTO DE MOMENTOS DE GIRO EN ARBOLES ROTATIVOS.

(01/07/1992) EN UNA TOMA DE MEDICION PARA MODIFICACIONES DE LONGITUDES Y DISTANCIAS (AX) CON FORMACIONES DE MAGNITUDES DE MEDICION MECANICA-ELECTRICA, COMO CAPACIDAD AJUSTABLE SE HA PREVISTO UNA DISPOSICION DE CONDENSADORES (KA) CON DOS ESTRUCTURAS DE ELECTRODOS (ES1, ES2). LAS ESTRUCTURAS DE ELECTRODOS (ES1,ES2) SE COMPONEN DE VARIOS ELECTRODOS (E1,E2) COLOCADOS EN PARALELO. MEDIANTE UNA DISPOSICION FUERTEMENTE ASIMETRICA DELAS ESTRUCTURAS DE ELECTRODOS (ES1,ES2) SE OVBTIENE UN DESACOPLAMIENTO CAPACITATIVO, DE FORMA QUE LA CAPACIDAD TOTAL DE LA DISPOSICION DE CONDENSADORES RESULTA DE LA CONEXION PARALELA DE LOS PARES DE ELECTRODOS, FORMADOS MEDIANTE ELECTRODOS COLOCADOS EN FRENTE. COMO MAGNITUD DE MEDICION LA MODIFICACION DE CAPACIDAD PROVOCADO POR EL DISTANCIAMIENTO VARIABLE DE LOS ELECTRODOS (L1). LAS ESTRUCTURAS DE LOS ELECTRODOS…

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