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Inventos patentados en España en los últimos 60 años. Clasificación por categorías, empresas e inventores. Clasificación Internacional de Patentes CIP 2007.
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PROCEDIMIENTO Y APARATO PARA LA CARACTERIZACION POR DIFRACCION DE RAYOS X DE UN MATERIAL CON FASE AMORFA.

Resumen: Procedimiento para la caracterización cualitativa y cuantitativa de un material (2) que contiene al menos una parte amorfa mediante el análisis del espectro de difracción de rayos X en el que se analiza un espectro de difracción combinado del material y de un "patrón" cristalino con el método de Rietveld en un dispositivo informatizado, caracterizado porque se obtiene el espectro de difracción combinado (11) mediante la combinación matemática lineal de un espectro de difracción medido (8) del "patrón" (1) cristalino con un espectro de difracción medido (10) del material (2).

Solicitante: LAFARGE

Nacionalidad: FR

Inventor/es: WALENTA, GUNTHER. FULLMAN, THOMAS. WESTPHAL, TORSTEN. PILLMANN, HERBERT

Fecha de Publicación de la Concesión: 16/06/2007

Fecha Concesión Europea: 02/11/2006

Clasificación Principal: G01N23/20

Clasificación PCT: G01N23/20

<< DISPOSITIVO DE ENGANCHE DE UNA SEMBRADORA A UNA MAQUINA DE TRABAJO DE LA TIERRA, CON BIELETAS DE FIJACION.

VARILLAS DE COMBUSTIBLE DE ALEACION DE CIRCONIO QUE CONTIENEN OXIDO METALICO PARA ATENUAR LA HIDROGENACION SECUNDARIA. >>

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