PORTAOBJETOS DE MICROSCOPIO.
DOS PORTAOBJETOS RECTANGULARES, CON CARAS FRONTAL Y POSTERIOR,
ESTAN MANTENIDOS CON LAS CARAS FRONTALES (112,132) EN OPOSICION. UNAS PARTES EXTREMAS ELEVADAS (122,142) SOBRE UNA O AMBAS CARAS, LAS MANTIENEN SEPARADAS A UNA DISTANCIA (POR EJEMPLO, DE 100 A 250 (MU)M) CONDUCTIVA PARA ACCION REVERSIBLE CAPILAR ENTRE AMBAS. UNAS PARTES LEVANTADAS AISLADAS (135,145) SOBRE UNA O AMBAS CARAS ESTAN SITUADAS EN ESQUINAS OPUESTAS SOBRE LOS EXTREMOS LEVANTADOS. LAS PARTES AISLADAS LEVANTADAS SIRVEN PARA MANTENER EL ESPACIADO ENTRE LAS CARAS FRONTALES, EN ESPECIAL AL ENTRAR EN CONTACTO CON UN MATERIAL ABSORBENTE LOS EXTREMOS DE LOS PORTAOBJETOS OPUESTOS A LAS PARTES EXTREMAS LEVANTADAS. UNA ABERTURA ENTRE LAS PARTES AISLADAS LEVANTADAS PERMITE QUE ENTRE Y SALGA LIQUIDO POR EL INTERSTICIO (140) ENTRE LAS CARAS FRONTALES.
Tipo: Resumen de patente/invención.
Solicitante: FISHER SCIENTIFIC COMPANY
ERIE SCIENTIFIC COMPANY (A DELAWARE CORPORATION).
Nacionalidad solicitante: Estados Unidos de América.
Dirección: 711 FORBES AVENUE, PITTSBURGH, PA 15219.
Inventor/es: BABBITT, THOMAS JOHN, BRIGATI, DAVID JOHN.
Fecha de Publicación: .
Fecha Concesión Europea: 3 de Junio de 1992.
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01N1/28 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › G01N 1/00 Muestreo; Preparación de muestras para la investigación (manipulación de materiales para un análisis automático G01N 35/00). › Preparación de muestras para el análisis (montaje de muestras sobre las placas del microscopio G02B 21/34; medios de soporte para los objetos o para los materiales a examinar en un microscopio electrónico H01J 37/20).
- G02B21/34 G […] › G02 OPTICA. › G02B ELEMENTOS, SISTEMAS O APARATOS OPTICOS (G02F tiene prioridad; elementos ópticos especialmente adaptados para ser utilizados en los dispositivos o sistemas de iluminación F21V 1/00 - F21V 13/00; instrumentos de medida, ver la subclase correspondiente de G01, p. ej. telémetros ópticos G01C; ensayos de los elementos, sistemas o aparatos ópticos G01M 11/00; gafas G02C; aparatos o disposiciones para tomar fotografías, para proyectarlas o para verlas G03B; lentes acústicas G10K 11/30; "óptica" electrónica e iónica H01J; "óptica" de rayos X H01J, H05G 1/00; elementos ópticos combinados estructuralmente con tubos de descarga eléctrica H01J 5/16, H01J 29/89, H01J 37/22; "óptica" de microondas H01Q; combinación de elementos ópticos con receptores de televisión H04N 5/72; sistemas o disposiciones ópticas en los sistemas de televisión en colores H04N 9/00; disposiciones para la calefacción especialmente adaptadas a superficies transparentes o reflectoras H05B 3/84). › G02B 21/00 Microscopios (oculares G02B 25/00; sistemas polarizantes G02B 27/28; microscopios de medida G01B 9/04; micrótomos G01N 1/06; técnicas o aparatos de sonda de barrido G01Q). › Platinas de microscopios, p. ej. montaje de muestras sobre las platinas de microscopio (preparación de muestras para el análisis G01N 1/28; medios de soporte de los objetos o materiales sometido al análisis en los microscopios electrónicos H01J 37/20).
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