METODO Y APARATO PARA DETECTAR LAS ESQUINAS DE ARTEFACTOS EN IMAGENES BIDIMENSIONALES

Resumen: UN SISTEMA PARA BUSCAR UNA ESQUINA DE UN ARTEFACTO EN UNA IMAGEN DE PIXELS BIDIMENSIONAL (500) QUE SELECCIONA UN PIXEL DE ARRANQUE ORIGINAL (224) Y GENERA UN VECTOR DE REFERENCIA UTILIZANDO EL PIXEL DE ARRANQUE ORIGINAL. EL SISTEMA SELECCIONA UN PIXEL SIGUIENTE DE ARRANQUE UTILIZANDO EL PIXEL DE ARRANQUE ORIGINAL Y GENERA UN VECTOR EN CURSO UTILIZANDO EL PIXEL SIGUIENTE DE ARRANQUE. EL SISTEMA COMPARA EL VECTOR EN CURSO CON EL VECTOR DE REFERENCIA Y SELECCIONA UNA ESQUINA EN BASE A ESA COMPARACION.

Solicitante: UNITED PARCEL SERVICE OF AMERICA, INC.

Nacionalidad: US

Inventor/es: KLANCNIK, MIHAEL. ZHENG, JOE

Fecha de Publicación de la Concesión: 16/10/1997

Fecha Concesión Europea: 23/04/1997

Clasificación Principal: G06K7/10, G06K19/06