INSTALACION PARA EL ANALISIS DE UN MATERIAL.
INSTALACION PARA EL ANALISIS DE UN MATERIAL, QUE COMPRENDE UNA SONDA DE MEDICION (3) QUE COMPRENDE UNA FUENTE DE RADIACION ELECTROMAGNETICA DISPUESTA POR DEBAJO DE UNA PANTALLA REPLEGABLE (6),
ESTANDO LA FUENTE (3) Y LA PANTALLA (6) DISPUESTAS EN UN RECINTO (2) DOTADO DE UNA TAPA REPLEGABLE (10) POR ENCIMA DE LA PANTALLA (6).
Tipo: Resumen de patente/invención.
Solicitante: SOLVAY (SOCIETE ANONYME).
Nacionalidad solicitante: Bélgica.
Dirección: RUE DU PRINCE ALBERT, 33,B-1050 BRUXELLES.
Inventor/es: ROQUIGNY, ROGER, NENIN, VICTOR.
Fecha de Publicación: .
Fecha Concesión Europea: 29 de Noviembre de 1995.
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01B15/02 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01B MEDIDA DE LA LONGITUD, ESPESOR O DIMENSIONES LINEALES ANALOGAS; MEDIDA DE ANGULOS; MEDIDA DE AREAS; MEDIDA DE IRREGULARIDADES DE SUPERFICIES O CONTORNOS. › G01B 15/00 Disposiciones de medida caracterizadas por la utilización de radiación de ondas o partículas (G01B 9/00, G01B 11/00 tienen prioridad). › para la medida del espesor.
- G21K1/04 G […] › G21 FISICA NUCLEAR; TECNICA NUCLEAR. › G21K TECNICAS NO PREVISTAS EN OTRO LUGAR PARA MANIPULAR PARTICULAS O RADIACIONES ELECTROMAGNETICAS; DISPOSITIVOS DE IRRADIACION; MICROSCOPIOS DE RAYOS GAMMA O DE RAYOS X. › G21K 1/00 Disposiciones para manipular las radiaciones ionizantes o las partículas, p. ej. para enfocar, para moderar (filtros de radiaciones ionizantes G21K 3/00; producción o aceleración de neutrones, partículas cargadas eléctricamente, haces de moléculas neutras o haces de átomos neutros H05H 3/00 - H05H 15/00). › que utilizan diafragmas de abertura variable, obturadores, cuchillas.
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