Inventos patentados en España en los últimos 60 años. Clasificación por categorías, empresas e inventores. Clasificación Internacional de Patentes CIP 2007.
INSTALACION PARA DESPUNTAR Y TALLAR Y PARA TOMAR MUESTRAS.
Resumen: INSTALACION PARA CIZALLAR Y TOMAR MUESTRAS LA CUAL ES APTA PARA CIZALLAR EL CABEZAL Y LA COLA DE UN PRODUCTO ENROLLADO QUE PUEDE VIAJAR A ALTAS O MUY ALTAS VELOCIDADES, EL CABEZAL Y COTA SON DESCARGADOS A TRAVES DE UN CONDUCTO DE DESCARGA INDEPENDIENTE (15), LA INSTALACION COMPRENDE AL MENOS UNA CIZALLA DE AIRE (11) AL MENOS PARA LA CORRECTA CIZALLATURA Y DISTRIBUCION DEL CABEZAL Y COLA, EL CONDUCTO (15) COOPERA CON UNA CIZALLA DE AIRE (18) PARA COGER MUESTRAS, AL MENOS UN CONTENEDOR (19) PARA LAS PORCIONES RECOGIDAS COMO MUESTRAS QUE ESTA LOCALIZADO HACIA ABAJO DE LA CIZALLA (18).
Solicitante: DANIELI & C. OFFICINE MECCANICHE S.P.A.