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Inventos patentados en España en los últimos 60 años. Clasificación por categorías, empresas e inventores. Clasificación Internacional de Patentes CIP 2007.
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APARATO Y METODO PARA EL ENSAYO NO DESTRUCTIVO DE ARTICULOS UTILIZANDO METROLOGIA OPTICA.

Resumen: Aparato para inspeccionar o ensayar una muestra (17) utilizando técnicas de cizallografía, que incluye: un interferómetro (3) de corte con láser que incluye: una fuente (5) de radiación coherente; medios (7) de generación de línea para producir una línea de radiación coherente (19) desde dicha fuente (5), medios (15) de exploración de línea para explorar dicha línea de radiación coherente (19) sobre dicha muestra (17), medios de elemento de corte o cizalladura (29, 41) para generar dos imágenes de la muestra (17) desplazadas lateralmente, y medios (31) de escalonamiento o inclinación de fase para escalonar o inclinar la fase de una de las dos imágenes, y .una cámara de vídeo (11) para visualizar imágenes de las muestra (17) y para proporcionar las señales (21) de salida de vídeo correspondientes, un procesador de imágenes (23) operativo para recibir las señales (21) de salida de vídeo y para extraer de él el régimen de fotogramas de la cámara (11) en tiempo esencialmente real, medios (25) de generación de señales para proporcionar a dichos medios (31) de escalonamiento o inclinación y a dichos medios (15) de exploración de línea una señal esencialmente en fase con el régimen de fotogramas de dicha cámara (11), medios descodificadores para la desenvoltura o extracción de fase, una cámara de vacío (1) para contener al menos el interferómetro (3) de corte por láser y la muestra (17), medios de control de presión (43, 45) capacitados para variar la presión dentro de la cámara de vacío (1) entre varios valores de presión predeterminados, y medios (47) de unidad de control para acoplar entre sí y sincronizar dicho procesador (23), dichos medios (25) generadores de señal, dichos medios descodificadores y dichos medios (43, 45) de control de presión.

Solicitante: BAE SYSTEMS PLC

Nacionalidad: GB

Inventor/es: PARKER, STEVE CARL JAMIESON. SMITH, JOHN PATRICK W25A BR.AEROSP.MILIT.AIRCRAFT. SALTER, PHILLIP LANGLEY FPC 267 BRITISH AEROSPACE

Fecha de Publicación de la Concesión: 16/12/2003

Fecha Solicitud PCT: 03/08/1999

Fecha Concesión Europea: 09/04/2003

Clasificación Principal: G01B11/16, G01B9/02, G01J9/02

Países PCT: AT, BE, CH, DE, DK, ES, FR, GB, GR, IT, LI, LU, NL, SE, MC, PT, IE, SI, FI, RO, CY, EPO, LT, LV, MK, AL, AM, AZ, BY, GH, GM, KE, KG, KZ, LS, MD, MW, RU, SD, SL, TJ, TM, UG, ZW, BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, ML, MR, NE, SN, TD, TG, ARIPO, SZ, GW, OAPI, EAPO

APARATO Y METODO PARA EL ENSAYO NO DESTRUCTIVO DE ARTICULOS UTILIZANDO METROLOGIA OPTICA.

<< USO DE COMPUESTOS MACROLIDOS PARA EL TRATAMIENTO DE LESIONES PULMONARES AGUDAS.

SOPORTE DE MODELO PARA LA IMPRESION DE MODELOS POR TRANSFERENCIA. >>

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