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Elemento óptico holográfico con varios patrones de interferencia.

(21/03/2018) Elemento óptico holográfico (10, 10', 40) para la medición de la extensión y la posición de un objeto con la ayuda de un rayo de luz (14') desviado que pasa sobre un rango angular determinado, el cual presenta en una sección un patrón de interferencia que de manera conocida de por sí se obtiene mediante la exposición simultánea a un frente de onda de referencia en forma de abanico, procedente de una fuente de luz láser monocromática coherente, y a un frente de onda paralelo, igualmente procedente de dicha fuente de luz láser monocromática coherente, que incide sobre el elemento en otro ángulo que el frente de onda de referencia , así como mediante el revelado subsiguiente,…

PROCESO PARA EL REGISTRO DE DEFECTOS DE AISLAMIENTO Y SPARKTESTER PARA LA REALIZACION DEL PROCESO.

Sección de la CIP Física

(16/11/1998). Inventor/es: NOPPER, PETER. Clasificación: G01R31/02.

EN UN ELECTRODO DE MEDIDA, QUE ESTA COMPUESTO DE ESCOBILLA DE CARBON, SE APLICA UNA TENSION DE PRUEBA DE, A MODO DE EJEMPLO, 800 HASTA 5.000 VOLT. ESTA TENSION DE PRUEBA SE REGULA POR MEDIO DE UN CIRCUITO DE REGULACION A LOS VALORES DESEADOS. IMPULSOS DE PENETRACION ALCANZADOS A TRAVES DE UN FILTRO EN UNA SALIDA SON REGULADOS A LA TENSION DE PRUEBA CORRESPONDIENTE SEGUN EL NIVEL DE REACCION. SE CONSIGUE DE AQUI UNA PRUEBA FIABLE SIN SOLICITACION MECANICA O ELECTRICA ALTA DEL OBJETO DE PRUEBA.

METODO Y DISPOSITIVO PARA LA OBTENCION OPTICA DE LAS DIMENSIONES DE UN OBJETO Y EMPLEO DEL METODO.

Sección de la CIP Física

(01/02/1998). Inventor/es: CANALES, GUILLERMO, ING. Clasificación: G01N21/15.

DOS VENTANAS OPTICAS SIRVEN PARA EL PASO DE UN RAYO DE LUZ A TRAVES DE UN ESPACIO DE TRATAMIENTO , EN EL CUAL SE ENCUENTRA UN PRODUCTO CUYA DIMENSION HAY QUE OBTENER. ENTRE EL ESPACIO DE TRATAMIENTO Y CADA UNA DE LAS VENTANAS OPTICAS , SE ENCUENTRA UNA COMPUERTA GIRATORIA , LA CUAL PERMITE SEPARAR LA VENTANA OPTICA DEL ESPACIO DE TRATAMIENTO . CON ESTO ES POSIBLE IMPEDIR LA ENTRADA DE UN MEDIO QUE AFECTA A LA VENTANA OPTICA DESDE EL ESPACIO DE TRATAMIENTO A LA CARA INTERIOR DE LA VENTANA, CUANDO LA PROTECCION DE LA VENTANA TIENE PREFERENCIA FRENTE A UNA MEDICION. DE ESTE MODO ES POSIBLE AUMENTAR NOTABLEMENTE LA DURACION DE LA VENTANA.

PROCEDIMIENTO Y DISPOSITIVO PARA MEDIR LA SECCION TRANSVERSAL DE HILOS ELECTRICOS.

Sección de la CIP Física

(01/11/1994). Inventor/es: JUNG, ULRICH, KOTTER, WILFRIED, SALZMANN, HANNES. Clasificación: G01B15/00, G05D5/03.

PROCEDIMIENTO Y DISPOSITIVO PARA MEDIR LA SECCION TRANSVERSAL DE HILOS ELECTRICOS. SE PROPONE UN PROCEDIMIENTO Y UN DISPOSITIVO PARA MEDIR HILOS ELECTRICOS, PRINCIPALMENTE DE HILOS DE MEDIA Y/O ALTA TENSION. EL HILO ESTA COMPUESTO, VISTO EN SU SECCION DE PERFIL, DE UN CONDUCTOR DE COBRE, UN SEMICONDUCTOR INTERIOR, UN AISLAMIENTO ASI COMO DE UN SEMICONDUCTOR EXTERIOR, FABRICANDOSE MEDIANTE UN DISPOSITIVO DE EXTRUSION CON EL CORRESPONDIENTE TREN TRANSPORTADOR DEL CABLE . PARA CONSEGUIR UNA DISTRIBUCION UNIFORME DE LAS DOS CAPAS DE SEMICONDUCTORES, ASI COMO DE LA CAPA DE AISLAMIENTO, SE ATRAVIESA MEDIANTE RAYOS EL HILO EN SU SALIDA DEL TREN TRANSPORTADOR , Y CON LOS DATOS OBTENIDOS SE REALIZA UNA CORRECCION EN EL AJUSTE DE LA HERRAMIENTA EN EL DISPOSITIVO DE EXTRUSION.

DISPOSITIVO Y PROCEDIMIENTO PARA LA PRODUCCION DE UN RAYO DE LUZ TELECENTRICO Y PROCEDIMIENTO PARA LA FABRICACION DE UN ELEMENTO HOLOGRAFICO.

Sección de la CIP Física

(01/11/1991). Inventor/es: KASER, BEDA. Clasificación: G01B11/10, G02B26/10, G02B5/32.

UN RAYO DE LUZ SE REPITE MEDIANTE UN ESPEJO DE VARIAS SUPERFICIES GIRATORIO EN SENTIDO LONGITUDINAL SOBRE UN ELEMENTO HOLOGRAFICO HOE ESTA COLOCADO DE FORMA QUE EL RAYO QUE ENTRA BAJO DIFERENTES ANGULOS COMO RAYO TELECENTRICO ABANDONA EL HOE . MEDIANTE OTRO HOE EL RAYO TELECENTRICO SE DOBLA SOBRE UN TRANSFORMADOR OPTO-ELECTRICO. EN LA ZONA DEL RAYO TELECENTRICO SE ENCUENTRA UN OBJETO A MEDIR Y EL TIEMPO DE LA INTERRUPCION DEL RAYO TELECENTRICO MEDIANTE ESTE OBJETO PERMITE CERRARLO SOBRE LA DIMENSION. LA PRODUCCION DEL RAYO TELECENTRICOY SU INCLINACION SOBRE EL TRANSFORMADOR MEDIANTE HOE PERMITE UNA FABRICACION SENCILLA Y A BAJO COSTE ASI COMO UNA EVALUACION SENCILLA DEL RESULTADO DE LA MEDICION CON ELEVADA PRECISION. LA FABRICACION DEL HOE ES EN TODO CASO SENCILLA.

APARATO CON UN OBJETIVO TELECENTRICO CON CORRECCION F-THETA,PARA MEDIR SIN CONTACTO FISICO Y EMPLEO DE ESTE APARATO.

Sección de la CIP Física

(01/04/1988). Ver ilustración. Inventor/es: BLANDFORD, BRIAN. Clasificación: G01B11/10.

APARATO CON UN OBJETIVO TELECENTRICO, CON CORRECCION F-THETA,PARA MEDIR SIN CONTACTO FISICO, Y EMPLEO DE ESTE APARATO, QUECONTIENE UN OBJETIVO TELECENTRICO, CON CORRECCION F-THETA, QUE PRESENTA DOS ELEMENTOS CATADIOPTRICOS. EL PRIMER ELEMENTO CATADIOPTRICO ES UN ESPEJO DE MANGIN Y EL SEGUNDO ELEMENTO CATADIOPTRICO ES UNA PLACA PLANA, ESPEJADAPOR SU LADO ANTERIOR, MIENTRAS QUE EL TERCER ELEMENTO OPTICO ES UNA LENTE DE MENISCO . EL EMPLEO DE ELEMENTOS CATADIOPTRICOS PERMITE REALIZAR UNA FORMA DE CONSTRUCCION SIMPLIFICADA Y ECONOMICA, ASI COMO COMPACTA, CON LO CUAL SE PUEDEN MEDIR RAPIDA Y EXACTAMENTE OBJETOS CON GRANDES DIMENSIONES. UN APARATO DE ESTE TIPO SIRVE ESPECIALMENTE PARA EL CONTROL CONTINUO DE LA PRODUCCION DE OBJETOS EN FORMA DE CORDON CONTINUO.

PROCEDIMIENTO Y DISPOSITIVO PARA VERIFICAR EL ESPESOR DE PARED DE UNA CAPA AISLANTE.

Sección de la CIP Técnicas industriales diversas y transportes

(01/09/1986). Clasificación: B29C47/92.

PROCEDIMIENTO Y DISPOSITIVO PARA VERIFICAR EL ESPESOR DE PARED DE UNA CAPA, AVERIGUANDOSE EL ESPESOR DE PARED EN LUGARES DIFERENTES DE DICHA CAPA. EL DISPOSITIVO CONSTA DE UN INSTRUMENTO DE MEDICION QUE MIDE EL DIAMETRO EXTERIOR DEL ALAMBRE A RECUBRIR; DE UN INSTRUMENTO MEDIDOR QUE MIDE EL DIAMETRO EXTERIOR DEL ALAMBRE UNA VEZ QUE HA SIDO RECUBIERTO; DE UN INSTRUMENTO MEDIDOR DE LOS GRUESOS DE PARED; DE UN ORDENADOR QUE RECIBE LOS VALORES MEDIDOS Y, ENTRE OTRAS COSAS, AVERIGUA CONTINUAMENTE LA DIFERENCIA ENTRE LOS ESPESORES DE PARED MAXIMOS Y MINIMOS, Y A PARTIR DE ESTA DIFERENCIA, ASI COMO DEL DIAMETRO EXTERIOR DEL AISLAMIENTO Y DEL DIAMETRO DEL CONDUCTOR, AVERIGUA LA EXCENTRICIDAD Y EL ESPESOR DE PARED MINIMO. DE APLICACION EN RECUBRIMIENTOS AISLANTES DE CONDUCTORES ELECTRICOS.

PERFECCIONAMIENTOS EN UN DISPOSITIVO PARA LA GENERACION DE UN RAYO DE LUZ TELECENTRICO.

Sección de la CIP Física

(01/03/1983). Clasificación: G02B27/00.

DISPOSITIVO DE GENERACION DE UN RAYO DE LUZ TELECENTRICO. COMPRENDE, EN UN PORTADOR ALOJADO DE FORMA GIRATORIA, AL MENOS DOS ESPEJOS INTERNOS DE CARAS PARALELAS. EL EJE OPTICO DEL RAYO DE LUZ PROCEDENTE DE UNA FUENTE DE LUZ , ESTA INCLINADO RESPECTO AL PLANO DE ROTACION DEL PORTADOR O DE LOS ESPEJOS. EL PORTADOR, A UN LADO DEL ESPEJO , PRESENTA VENTANAS PARA EL PASO DEL RAYO DE LUZ. AL OTRO LADO, EL PORTADOR ESTA ABIERTO Y PERMITE EL PASO DEL RAYO DE LUZ LATERALMENTE A CADA UNO DE LOS ESPEJOS. LOS RAYOS TELECENTRICOS REFLEJADOS POR LOS ESPEJOS GIRATORIOS SON DESVIADOS EN OTRAS ZONAS MEDIANTE ESPEJOS LOCALMENTE FIJOS.

PROCEDIMIENTO Y DISPOSITIVO PARA LA MEDICION SIN CONTACTO DE UNA DIMENSION.

Sección de la CIP Física

(01/03/1982). Clasificación: G01B15/00.

PROCEDIMIENTO Y DISPOSITIVO PARA LA MEDICION UNIDIMENSIONAL DE OBJETOS UTILIZANDO UN SISTEMA OPTICO. LAS VARIACIONES DE INTENSIDAD QUE EXPERIMENTA UN RAYO LUMINOSO NITIDO, POR EJEMPLO, UN LASER, AL ATRAVESAR EL CAMPO DE MEDICION SON MEMORIZADAS EN FORMA CONTINUA Y EVALUADAS MEDIANTE UN MICROPROCESADOR. EL SISTEMA OPTICO COMPRENDE UNA FUENTE QUE EMITE UN RAYO SOBRE UN ESPEJO OCTOGONAL QUE GIRA CON VELOCIDAD CONSTANTE. EL RAYO REFLEJADO EN EL ESPEJO OCTOGONAL ATRAVIESA UN LENTE Y UN DIAFRAGMA HASTA INCIDIR EN EL OBJETO Y MEDIR (CABLE, TUBO, ETC.). UNA LENTE FOCALIZA EL RAYO LUMINOSO SOBRE UNA CELULA FOTOELECTRICA.

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