CIP-2021 : G01K 7/01 : usando elementos semiconductores con uniones PN (G01K 7/02,

G01K 7/16, G01K 7/30 tienen prioridad).

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G FISICA.

G01 METROLOGIA; ENSAYOS.

G01K MEDIDA DE TEMPERATURAS; MEDIDA DE CANTIDADES DE CALOR; ELEMENTOS TERMOSENSIBLES NO PREVISTOS EN OTRO LUGAR (pirometría de las radiaciones G01J 5/00).

G01K 7/00 Medida de la temperatura basada en la utilización de elementos eléctricos o magnéticos directamente sensibles al calor (que dan un resultado diferente al valor instantáneo de la temperatura G01K 3/00).

G01K 7/01 · usando elementos semiconductores con uniones PN (G01K 7/02, G01K 7/16, G01K 7/30 tienen prioridad).

CIP2021: Invenciones publicadas en esta sección.

CIRCUITO SENSOR DE TEMPERATURA DIFERENCIAL CON SELECCIÓN DE GRAN MARGEN DINÁMICO O ALTA SENSIBILIDAD.

(17/12/2018). Solicitante/s: UNIVERSITAT POLITECNICA DE CATALUNYA. Inventor/es: ALTET SANAHUJES,JOSEP, ARAGONES CERVERA,XAVIER, MATEO PEÑA,DIEGO, VIDAL LÓPEZ,Eva María, RUÍZ GONZÁLEZ,Sergio.

La presente invención describe un circuito sensor para ser integrado en un circuito microelectrónico que permite medir la diferencia de temperatura entre dos puntos de la superficie del cristal semiconductor. El circuito sensor tiene dos modos de funcionamiento: modo 1, donde trabaja con una elevada sensibilidad y un margen lineal pequeño y modo 2, donde tiene una menor sensibilidad pero un margen dinámico lineal grande. La figura 1 muestra un ejemplo de esquemático a nivel de transistor del sensor diferencial con selección de gran margen dinámico o alta sensibilidad.

PDF original: ES-2694036_A1.pdf

Procedimiento y dispositivo de estimación de temperatura equivalente en módulos fotovoltaicos.

(27/04/2018). Solicitante/s: UNIVERSIDAD POLITECNICA DE MADRID. Inventor/es: MARTINEZ MORENO, FRANCISCO, LORENZO PIGUEIRAS,EDUARDO, NARVARTE FERNANDEZ,LUIS, CARRILLO SALINAS,José Manuel.

Procedimiento y dispositivo de estimación de la temperatura equivalente en módulos fotovoltaicos en unas condiciones aleatorias de medida (diferentes a las condiciones estándar de medida para módulos fotovoltaicos). La temperatura equivalente obtenida mediante el procedimiento y el dispositivo de la invención puede ser utilizada, junto con una curva de intensidad de corriente vs. tensión obtenida en dichas condiciones aleatorias de medida, para obtener/extrapolar las características eléctricas (curva de intensidad de corriente vs. tensión) de un módulo fotovoltaico en condiciones estándar de medida con muy baja incertidumbre.

PDF original: ES-2665811_A1.pdf

Equipo de medida de temperatura de tubos de colectores solares cilindro parabólicos y método de medida de la temperatura.

(03/08/2016). Solicitante/s: ABENGOA SOLAR NEW TECHNOLOGIES, S.A. Inventor/es: ALONSO ESTEBAN,RAFAEL, HERAS VILA,CARLOS, MARTINEZ SANZ,NOELIA, SALINAS ARIZ,IÑIGO, IZQUIERDO NUÑEZ,David, ESPINOSA RUEDA,Guillermo, OSTA LOMBARDO,Marta, NAVARRO HERMOSO,José Luis, GELLA MARTÍN,Rafael.

Equipo de medida de temperatura de tubos de colectores solares cilindro parabólicos, que comprende: - un módulo de detección de la radiación electromagnética que proviene del tubo interior y del tubo exterior de un concentrador solar cilindro parabólico, que a su vez comprende: - al menos un medio detector formado por una pareja constituida por un fotodiodo y una termopila , de tal modo que la termopila y el fotodiodo miden en rangos espectrales no solapados, - un diafragma de material bajoemisivo situado a continuación del medio detector , y - medios electrónicos para la amplificación y filtrado de las señales detectadas por el medio detector - un módulo de control , con medios para recibir, procesar y almacenar las medidas realizadas en el módulo de detección, y - una carcasa que contiene, al menos, el módulo de detección.

PDF original: ES-2578985_B1.pdf

PDF original: ES-2578985_A1.pdf

EQUIPO DE MEDIDA DE TEMPERATURA DE TUBOS DE COLECTORES SOLARES CILINDRO PARABÓLICOS Y MÉTODO DE MEDIDA DE LA TEMPERATURA.

(07/07/2016). Solicitante/s: ABENGOA SOLAR NEW TECHNOLOGIES, S.A. Inventor/es: ALONSO ESTEBAN,RAFAEL, HERAS VILA,CARLOS, MARTINEZ SANZ,NOELIA, SALINAS ARIZ,IÑIGO, IZQUIERDO NUÑEZ,David, ESPINOSA RUEDA,Guillermo, OSTA LOMBARDO,Marta, NAVARRO HERMOSO,José Luis, GELLA MARTÍN,Rafael.

Equipo de medida de temperatura de tubos de colectores solares cilindro parabólicos, que comprende: - un módulo de detección de la radiación electromagnética que proviene del tubo interior y del tubo exterior de un concentrador solar cilindro parabólico, que a su vez comprende: o al menos un medio detector formado por una pareja constituida por un foto- diodo y una termopila , de tal modo que la termopila y el fotodiodo miden en rangos espectrales no solapados, o un diafragma de material bajoemisivo situado a continuación del medio de- tector , y o medios electrónicos para la amplificación y filtrado de las señales detectadas por el medio detector - un módulo de control , con medios para recibir, procesar y almacenar las medidas realizadas en el módulo de detección, y - una carcasa que contiene, al menos, el módulo de detección.

Circuito de control electrónico que comprende transistores de potencia y procedimiento para supervisar la vida útil de los transistores de potencia.

(10/09/2014) Circuito de control electrónico para un dispositivo eléctrico, en particular diseñado como un sistema electrónico de comunicación de un motor conmutado electrónicamente (M), que tiene una pluralidad de transistores de potencia (T1 - T6), los cuales están controlados en un modo de funcionamiento para controlar el dispositivo, caracterizado por un transistor de referencia similar, adicional (Ttest) el cual no está cargado en el modo de funcionamiento de los transistores de potencia (T1 - T6) y está instalado o formado junto con los transistores de potencia (T1 - T6) en un soporte o sustrato común y por medio de la aplicación al transistor de referencia (Ttest) y a por lo menos uno de los transistores de…

Procedimiento y dispositivo para determinar la temperatura de un interruptor semiconductor.

(09/04/2014) Procedimiento para determinar la temperatura (T) de un interruptor semiconductor , que tiene una resistencia eléctrica de puerta integrada (RGint), procedimiento que consta de las siguientes etapas: - activación del interruptor de semiconductor aumentando la tensión de puerta-emisor (UGE) del interruptor semiconductor mediante una resistencia eléctrica externa (Rext) conectada a la conexión de resistencia de puerta (GA) del interruptor semiconductor , caracterizado por que el procedimiento además comprende las siguientes etapas: - determinación del tiempo (dt) que la tensión de puerta-emisor (UGE) requiere durante el aumento de la tensión de puerta-emisor (UGE) del interruptor semiconductor , para aumentar de una primera tensión (U1) a una segunda tensión (U2); y - determinación de la temperatura (T) del interruptor semiconductor basándose…

CIRCUITO ELECTRÓNICO CON MAGNITUD ELÉCTRICA DE SALIDA DEPENDIENTE DE LA DIFERENCIA DE TENSIÓN DE DOS NODOS DE ENTRADA Y DE LA DIFERENCIA DE TEMPERATURA DE DOS DE SUS DISPOSITIVOS.

(18/11/2013) Circuito electrónico con magnitud eléctrica de salida dependiente de la diferencia de tensión de dos nodos de entrada y de la diferencia de temperatura de dos de sus dispositivos. La presente invención describe un circuito electrónico cuya magnitud eléctrica de salida depende de la diferencia de tensión de dos de los nodos de entrada del mismo así como de la diferencia de temperatura de dos de sus dispositivos internos. La figura 1 muestra el símbolo del circuito electrónico. Éste tiene como entradas eléctricas dos entradas en tensión y y dos entradas de alimentación y , y como salida tiene un nodo . Además, tiene dos dispositivos internos y cuya diferencia de temperaturas influirá de forma directa en el valor de la magnitud…

CIRCUITO SENSOR PARA LA MEDIDA DE TEMPERATURA EN PEQUEÑA SEÑAL EN CIRCUITOS INTEGRADOS.

(14/10/2013) Circuito sensor para la medida de temperatura en pequeña señal en circuitos integrados. La presente invención describe un circuito sensor para la medida de las variaciones de temperatura en pequeña señal a una frecuencia F provocadas por la potencia disipada por otro circuito, denominado circuito bajo medida, a la misma frecuencia F. El circuito sensor está compuesto por un transductor de temperatura acoplado térmicamente al circuito bajo medida a través del sustrato del mismo cristal semiconductor, un circuito de polarización y un filtro amplificador acoplado en alterna para eliminar los efectos de las variaciones lentas de temperatura. Por ejemplo, y sin que esta aplicación limite las reivindicaciones de la patente, la tensión de salida del circuito sensor, con una componente espectral a la frecuencia F amplificada,…

CIRCUITO ELECTRÓNICO CON MAGNITUD ELÉCTRICA DE SALIDA DEPENDIENTE DE LA DIFERENCIA DE TENSIÓN DE DOS NODOS DE ENTRADA Y DE LA DIFERENCIA DE TEMPERATURA DE DOS DE SUS DISPOSITIVOS.

(29/08/2013). Ver ilustración. Solicitante/s: UNIVERSITAT POLITECNICA DE CATALUNYA. Inventor/es: ALTET SANAHUJES,JOSEP, MATEO PEÑA,DIEGO, GÓMEZ SALINAS,Didac.

La presente invención describe un circuito electrónico cuya magnitud eléctrica de salida depende de la diferencia de tensión de dos de los nodos de entrada del mismo así como de la diferencia de temperatura de dos de sus dispositivos internos. La figura 1 muestra el símbolo del circuito electrónico. Éste tiene como entradas eléctricas dos entradas en tensión y y dos entradas de alimentación y , y como salida tiene un nodo . Además, tiene dos dispositivos internos y cuya diferencia de temperaturas influirá de forma directa en el valor de la magnitud eléctrica del nodo de salida. En el circuito de la presente invención la variación de la magnitud eléctrica de la salida depende de la diferencia de tensión de los dos nodos de entrada y así como de la diferencia de temperaturas de los dispositivos internos y.

CIRCUITO SENSOR PARA LA MEDIDA DE TEMPERATURA EN PEQUEÑA SEÑAL EN CIRCUITOS INTEGRADOS.

(29/08/2013). Ver ilustración. Solicitante/s: UNIVERSITAT POLITECNICA DE CATALUNYA. Inventor/es: ALTET SANAHUJES,JOSEP, REVERTER CUBARSI,Ferran.

La presente invención describe un circuito sensor para la medida de las variaciones de temperatura en pequeña señal a una frecuencia F provocadas por la potencia disipada por otro circuito, denominado circuito bajo medida, a la misma frecuencia F. El circuito sensor está compuesto por un transductor de temperatura acoplado térmicamente al circuito bajo medida a través del sustrato del mismo cristal semiconductor, un circuito de polarización y un filtro amplificador acoplado en alterna para eliminar los efectos de las variaciones lentas de temperatura. Por ejemplo, y sin que esta aplicación limite las reivindicaciones de la patente, la tensión de salida del circuito sensor, con una componente espectral a la frecuencia F amplificada, puede ser utilizada para determinar características eléctricas del circuito bajo medida sin necesidad de cargarlo eléctricamente.

REGISTRADOR DE VALORES DE MEDICION PARA MEDIR LA TEMPERATURA EN UTENSILIOS LLENOS DE ACEITE, Y METODO ADECUADO PARA MEDIR LA TEMPERATURA PARA EL MISMO.

(16/04/2006). Ver ilustración. Solicitante/s: MASCHINENFABRIK REINHAUSEN GMBH. Inventor/es: STADELMAYER, MANFRED, VIERECK, KARSTEN DR.-ING.

LA INVENCION SE REFIERE A UN RECEPTOR DE VALOR DE MEDICION PARA MEDICION DE TEMPERATURA, QUE MUESTRA UN SENSOR DE TEMPERATURA MODULADO CON GRADO DE EXPLORACION Y OTROS MEDIOS, QUE ESTAN DISPUESTOS CONJUNTAMENTE EN UNA CAJA DE UN TERMOMETRO DE RESISTENCIA HABITUAL. LA INVENCION SE REFIERE ADEMAS A UN PROCEDIMIENTO CORRESPONDIENTE, DONDE SE GENERA UNA SEÑAL SIMETRICA DE TIERRA, Y DONDE SE EVITAN LOS FALLOS ORIGINADOS POR MEDIO DE RADIACION EMV.

PROCEDIMIENTO Y DISPOSITIVO PARA LA DETERMINACION DE LA CORRIENTE DE CARGA DE UN ACUMULADOR.

(16/04/2003). Solicitante/s: SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT. Inventor/es: SCHWARZ, THOMAS, MENZ, WOLFGANG.

Procedimiento para la determinación de la corriente de carga (IL) y de la temperatura (T) de un acumulador, caracterizado porque una parte de la corriente de carga (IL) es amplificada a través de un transistor (V), que está en contacto térmico con el acumulador, se mide una vez una tensión de salida (UA) del circuito amplificador de transistor para la determinación de un valor de referencia (UA, Ref) a una temperatura conocida (T0), a continuación a la temperatura (T) a determinar, con la corriente de carga desconectada, se mide la tensión de salida (UA, O) y a la misma temperatura se mide la tensión de salida (UA, I) con la corriente de carga (I) conectada y a continuación a partir del valor de referencia (UA, Ref), de la tensión (UA, O) con la corriente de carga desconectada y de la tensión (UA, I) con la corriente de carga conectada, se determinan por cálculo la temperatura (T) y la corriente de carga (I).

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