(10/04/2019). Solicitante/s: COMMISSARIAT A L'ENERGIE ATOMIQUE ET AUX ENERGIES ALTERNATIVES. Inventor/es: LABRUNIE,Antoine, CHAINTREUIL,NICOLAS, BARRUEL,FRANCK.

Procedimiento de diagnóstico para un generador fotovoltaico caracterizado porque implementa una etapa de observación de la evolución de su tensión (U) en función del tiempo durante su paso de un modo de funcionamiento en cortocircuito a un modo de circuito abierto o viceversa, de un modo de funcionamiento en circuito abierto a un modo de cortocircuito.

PDF original: ES-2708572_T3.pdf

(20/03/2019). Solicitante/s: COMMISSARIAT A L'ENERGIE ATOMIQUE ET AUX ENERGIES ALTERNATIVES. Inventor/es: MABILLE,LOÏC.

Procedimiento de control de la calidad de un dispositivo fotovoltaico que comprende una célula fotovoltaica ensamblada con un substrato por mediación de una superficie de contacto de ensamblado, que comprende las etapas siguientes: • inyección (S0) de una corriente eléctrica (I1) a través de la célula fotovoltaica ; • adquisición (S1) de una señal (IM0) de medición de radiaciones luminosas emitidas por la célula fotovoltaica, por electroluminiscencia, en respuesta a la corriente inyectada; siendo la corriente de inyección (I1) una primera corriente con una densidad superior a un umbral de corriente predefinido de detección de defectos de ensamblado, y está prevista una etapa (S5) de detección de al menos un defecto en la superficie de contacto de ensamblado a partir de dicha señal de medición adquirida.

PDF original: ES-2735051_T3.pdf

(29/11/2017). Solicitante/s: ADENSIS GMBH. Inventor/es: BECK,BERNHARD.

Procedimiento para verificar el aislamiento de una instalación fotovoltaica con respecto a tierra con ayuda de un impulso de prueba aplicado a las líneas de alimentación (6,6') de la instalación fotovoltaica, caracterizado por que la instalación fotovoltaico está subdividida estructuralmente en varias instalaciones parciales , aisladas eléctricamente entre sí, y el impulso de prueba se emite sucesivamente a la respectiva línea de alimentación (6,6') asociada a la instalación parcial.

PDF original: ES-2659889_T3.pdf

(10/11/2016). Solicitante/s: POWER ELECTRONICS ESPAÑA, S.L. Inventor/es: POVEDA LERMA,ANTONIO, SALVO LILLO,ABELARDO, SALVO LILLO,David.

Método para el diagnóstico de fallos en inversores solares que ante un evento de fuga de corriente DC, el inversor activa la protección correspondiente, interrumpiendo la producción de energía; y posteriormente activa una secuencia de maniobras de diagnóstico de fallos, configuradas para detectar la cadena de paneles que tiene la fuga; y donde dicha secuencia de maniobras comprende el descartar el fallo en la parte de corriente alterna (AC) abriéndola en primer lugar; donde si al abrir la parte de AC desaparece el fallo no se realiza un diagnóstico por canales; y donde en caso de no desaparecer el fallo, se procede a la apertura de los contactores de DC; a continuación se cierran y abren uno a uno comprobando la resistencia de aislamiento; y donde los canales que al cerrarse reporten fallo de aislamiento deben abrirse y permanecer abiertos hasta que se corrija el fallo.

PDF original: ES-2589148_B1.pdf

PDF original: ES-2589148_A1.pdf

(05/06/2014). Ver ilustración. Solicitante/s: ENERTIS SOLAR, S.L. Inventor/es: COELLO RODRÍGUEZ,Jorge.

Laboratorio para ensayos a módulos fotovoltaicos, que comprende un vehículo de transporte, cuya caja se configura como habitáculo para realizar los ensayos, la cual, es extensible con, una posición recogida para circular y una posición extendida que se alarga a la longitud necesaria, e incluye dos diafragmas , para evitar reflexiones de luz, tiene paredes opacas y mantiene la temperatura constante y controlada en su interior. La caja comprende dos tramos (2a, 2b) extensibles telescópicamente, uno mayor externo (2a) fijo y uno menor interno (2b) que encaja dentro del anterior. Su pared posterior cuenta con un cajón extraíble a través de una trampilla abatible, destinado a incorporar una lámpara flash.

(08/03/2012). Ver ilustración. Solicitante/s: UNIVERSIDAD DE MALAGA. Inventor/es: SIDRACH DE CARDONA ORTIN,MARIANO, PILIOUGINE ROCHA,MICHEL.

Se describe un sistema para la medición de la curva tensión-corriente para un módulo fotovoltaico que comprende una fuente de alimentación conectada a dicho dispositivo fotovoltaico ; un medidor de corriente conectado en serie, entre la fuente de alimentación y el dispositivo fotovoltaico; un medidor de tensión conectado en paralelo al dispositivo fotovoltaico; un generador de onda cuadrada conectado al medidor de corriente y al medidor de tensión; y, un controlador en comunicación con la fuente de alimentación El sistema permite realizar un gran número de mediciones en un corto tiempo para evitar que el cambio de condiciones meteorológicas afecte la medición.

(01/10/2005). Ver ilustración. Solicitante/s: UNIVERSIDAD DEL PAIS VASCO EUSKAL HERRIJO UNIBERSITATEA. Inventor/es: MARTINEZ SANTOS,VICTOR, JIMENO CUESTA,JUAN CARLOS, GUTIERREZ SERRANO,RUBEN, RECART BARAANO,FEDERICO, BUENO MENDIETA,GORKA, HERNANDO BRIONGOS,FERNANDO, RODRIGUEZ CUESTA,MARIA VELIA, URIARTE DEL RIO,SUSANA, SAENZ NOVALES,MARIA JOSE, IKARAN SALEGI,CARMEN.

Sistema de evaluación de células solares. El sistema está compuesto por un sistema de iluminación continua, a base de lámparas halógenas, un sistema de control de temperatura de la célula, basado en intercambiadores de calor por efecto peltier, una estación de medida que incorpora una plataforma portacélulas y un sistema de extracción de corriente, un sistema de polarización, un sistema de adquisición de datos, un sistema de carga y descarga automática de las células solares, permitiendo establecer condiciones variables de iluminación que permiten realizar medidas de intensidad y tensión I-V de iluminación y oscuridad, así como medidas de cortocircuito a tensión de circuito abierto y de fotovoltaje en condiciones variables.

(16/03/2005). Ver ilustración. Solicitante/s: CONSEJO SUP. INVESTIGACIONES CIENTIFICAS. Inventor/es: LOZANO FANTOBA,MANUEL, PERELLO GARCIA,CARLES, ENRICH SARD,XAVIER, SANTANDER VALLEJO,JOAQUIN.

Sistema de alineamiento de obleas y de lectura de microcódigos de barras y de marcas en chips con láser. La invención es un sistema para leer marcas del tamaño de micras en obleas de semiconductor, adaptable a estaciones de prueba para medirlas. Estas pueden ser códigos de barras conteniendo información o marcas especiales para el alineamiento de los ejes de los chips en la oblea con respecto a los ejes de movimiento X e Y de la estación. Consiste en un sistema lector láser de los utilizados en reproductores de CD y permite resolución de micrómetros. El sistema de lectura está fijo y es la oblea, gracias a los motores de la estación de pruebas, quién se mueve. Las ventajas son su simplicidad, puede adaptarse a cualquier estación de pruebas existente y resulta muy barato. Además permite la lectura de microcódigos de barras, conteniendo información relevante de cada chip.

(16/09/2004). Ver ilustración. Solicitante/s: LUCENT TEHNOLOGIES INC. Inventor/es: ORTEGA,CARLOS, ALONSO MONTULL,JUAN IGNACIO.

Método y aparato para realizar análisis de fallos multivariados para aumentar los rendimiento de fabricación de semiconductores, que comprende medios para formar una pluralidad de obleas comprendiendo cada una, una pluralidad de "dados"; recoger datos de características eléctricas correspondientes a dispositivos en la pluralidad de "dados", recoger datos de características de funcionamiento de los circuitos de la pluralidad de "dados", correspondientes a una característica elegida de funcionamiento de los circuitos; comparar los datos recogidos de funcionamiento de los circuitos con un umbral para determinar fallos; realizar un análisis de fallos multivariados basado en los datos recogidos de las características eléctricas; y ajustar por lo menos un proceso de fabricación de los semiconductores basado en el análisis de fallos multivariados para reducir fallos.

(16/09/2004). Ver ilustración. Solicitante/s: LUCENT TECHNOLOGIES INC.. Inventor/es: ORTEGA,CARLOS, SLONSO MONTULL,JUAN IGNACIO, SOBRINO PATINO,ELISEO VENTURA.

Método y aparato para determinar interdependencias entre datos recogidos para aumentar los rendimientos de producción de semiconductores, que comprenden medios para formar una pluralidad de obleas comprendiendo cada una pluralidad de "dados" (cuerpos de circuitos integrados); recoger datos de características de funcionamiento de los circuitos correspondientes a una característica elegida de funcionamiento de los circuitos correspondientes a una característica elegida de funcionamiento de los circuitos de la pluralidad de "dados"; comparar los datos recogidos de las características de funcionamiento de los circuitos con un umbral para determinar fallos de "dados"; utilizar una red neural para determinar interdependencias entre los datos recogidos de características de funcionamiento de los circuitos para determinar fallos de "dados"; y ajustar por lo menos un proceso de fabricación de los semiconductores tomando como base las interdependencias para reducir fallos de "dados".

(01/06/2004). Ver ilustración. Solicitante/s: DREI SOLAR AG. Inventor/es: SCHUTT, CARLA.

Dispositivo para probar células solares con una fuente de luz matricial definida para la irradiación de células solares , un dispositivo para el mando de la fuente de luz con un regulador de la intensidad de la corriente así como una unidad de valoración para la conexión eléctrica con una célula solar que se ha de probar y para el registro de la potencia eléctrica proporcionada por la célula solar irradiada y, dado el caso, para la comparación con la potencia de una célula de referencia calibrada, caracterizado porque la fuente de luz matricial está constituida por fuentes de luz de cuerpos sólidos, cuya emisión de radiación se realiza en el intervalo de sensibilidad básicamente monocromático y preferentemente espectral de las células solares que se han de medir.

(01/08/1998). Solicitante/s: REITINGER, ERICH. Inventor/es: REITINGER, ERICH.

DISPOSICION PARA LA COMPROBACION DE GALLETAS DE SEMICONDUCTORES O SIMILARES. UNA DISPOSICION PARA LA COMPROBACION DE GALLETAS DE SEMICONDUCTORES O SIMILARES PRESENTA UNA MESA DE PRUEBA PARA EL ALOJAMIENTO DE LAS GALLETAS DE SEMICONDUCTORES O SIMILARES A COMPROBAR, ASI COMO UN SOPORTE PARA EL ALOJAMIENTO DE APOYOS DE SONDAS O SIMILARES; LA MESA DE PRUEBA ESTA DISPUESTA DENTRO DE UN RECEPTACULO, QUE ESTA CONFIGURADO ABIERTO HACIA ARRIBA; EL RECEPTACULO ESTA CUBIERTO POR UNA PLACA, QUE CONTIENE UN ORIFICIO PARA EL PASO DE LAS ONDAS O SIMILARES Y DENTRO DEL RECEPTACULO HAY PREVISTOS LOS ELEMENTOS DE SALIDA QUE ESTAN CONECTADOS A TRAVES DE UNA ACOMETIDA A UNA FUENTE PARA AIRE, GAS, O SIMILAR.

(01/04/1996). Ver ilustración. Solicitante/s: CONSEJO SUPERIOR INVESTIGACIONES CIENTIFICAS. Inventor/es: LOZANO, M., CANE, C., PERELLO, C., LORA-TAMAYO, E.

LA ESTRUCTURA DE TEST PARA LA MEDIDA DEL DESALINEAMIENTO ENTRE NIVELES DE TECNOLOGIAS MICROELECTRICAS, BASADA EN TRANSISTORES MOS CON PUERTA TRIANGULAR, ES UN DISPOSITIVO MICROELECTRONICO COMPUESTO DE CUATRO TRANSISTORES MOS CON LA PUERTA TRIANGULAR, DISPUESTOS FORMANDO 90 ENTRE SI, CON LOS TERMINALES DE FUENTE UNIDOS, SENSIBLE AL DESALINEAMIENTO ENTRE LOS NIVELES DE PUERTA Y AREAS ACTIVAS EN TECNOLOGIAS AUTOALINEADAS. EL DESALINEAMIENTO SE OBTIENE A PARTIR DE LA MEDIDA DE LA CORRIENTE DE CANAL EN CADA UNO DE LOS TRANSISTORES, POLARIZANDO LOS MISMOS EN LA ZONA LINEAL O EN LA DE SATURACION.

(16/12/1995). Ver ilustración. Solicitante/s: CONSEJO SUPERIOR DE INVESTIGACIONES CIENTIFICAS. Inventor/es: LOZANO, M., CANE, C., PERELLO, M., ANGUITA, J.

LA ESTRUCTURA DE TEST PARA LA MEDIDA DE LA DIFUSION LATERAL EN TECNOLOGIAS CON DOPADO A PARTIR DE POLISICILIO, CON CORRECCION DEL DESALINEAMIENTO ES UN DISPOSITIVO COMPUESTO DE VARIOS TRANSISTORES MOS DE VACIAMIENTO, DE DISTINTAS DIMENSIONES, CON CONTACTOS ENTERRADOS DISPUESTOS ALTERNATIVAMENTE A DERECHA E IZQUIERDA. LA ESTRUCTURA DEBE CONTENER CUATRO TRANSISTORES COMO MINIMO A PESAR DE QUE LA IMPLEMENTACION PRACTICA QUE SE PRESENTA CONTIENE NUEVE. LA MEDIDA QUE SE REALIZA ES DE TIPO ELECTRICO MEDIANTE AJUSTES LINEALES DE LA INVERSA DE LA CORRIENTE DE DRENADOR RESPECTO A LAS LONGITUDES DE LOS TRANSISTORES. SU APLICACION CONSISTE EN LA OBTENCION AUTOMATICA MEDIANTE MEDIDAS ELECTRICAS DE LA LONGITUD DE DIFUSION LATERAL EN PROCESOS DE AUTODOPADO A PARTIR DE MATERIAL POLICRISTALINO.

(01/09/1995). Solicitante/s: INTERUNIVERSITAIR MICROELEKTRONICA CENTRUM VZW LIMBURGS UNIVERSITAIR CENTRUM. Inventor/es: STALS, LAMBERT MATHIAS MARIA, ROGGEN, JEAN JOSEPH MARIE, DE SCHEPPER, LUC IRENA, DE CEUNINCK, WARD AIME STEFAN.

UN METODO PARA DETERMINAR EL CAMBIO DE IMPEDANCIA DE UN PARAMETRO DE ENVEJECIMIENTO ELECTROMAGNETICO SOBRE UNO O MAS ELEMENTOS QUE TIENEN DICHO PARAMETRO, EN EL QUE EL ELEMENTO SE COLOCA EN UN HORNO A UNA TEMPERATURA PREDETERMINADA Y EN EL QUE SE REALIZA UNA MEDIDA DE LA RESISTENCIA A ESTA TEMPERATURA.