CIP-2021 : H01J 49/06 : Dispositivos electronópticos o ionópticos (H01J 49/04 tiene prioridad).

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H ELECTRICIDAD.

H01 ELEMENTOS ELECTRICOS BASICOS.

H01J TUBOS DE DESCARGA ELECTRICA O LAMPARAS DE DESCARGA ELECTRICA (espinterómetros H01T; lámparas de arco, con electrodos consumibles H05B; aceleradores de partículas H05H).

H01J 49/00 Espectrómetros de partículas o tubos separadores de partículas.

H01J 49/06 · · Dispositivos electronópticos o ionópticos (H01J 49/04 tiene prioridad).

CIP2021: Invenciones publicadas en esta sección.

Obturador para un espectrómetro de movilidad iónica.

(31/07/2019) Un obturador para un espectrómetro de movilidad iónica, que comprende: - una primera superficie de electrodo que tiene varios elementos de primer electrodo dispuestos en un primer plano y a una distancia uno del otro; - una segunda superficie de electrodo dispuesta paralela y a una distancia de la primera superficie de electrodo y que tiene varios segundos elementos de electrodo dispuestos en un segundo plano y a una distancia uno del otro; - una tercera superficie de electrodo que tiene varios elementos de tercer electrodo dispuestos en el tercer plano y a una distancia entre sí, estando dispuesta la tercera superficie…

Trampa de iones multipolar para espectrometría de masas.

(19/11/2018) Un dispositivo de trampa de iones, que comprende una zona de contención poliédrica vacía para contener iones; y una estructura poliédrica que cuenta con una pluralidad de superficies poligonales que circundan la zona de contención , estando definida cada una de las superficies de la estructura poliédrica por una pluralidad de vértices y bordes; en el que la estructura poliédrica comprende una pluralidad de electrodos confinados en el área superficial de la estructura poliédrica con los electrodos situados en cada vértice de la pluralidad de vértices de las superficies y electrodos adicionales dispuestos a…

Disposición analizadora para espectrómetro de partículas.

(29/10/2018) Un metodo para determinar al menos un parametro relacionado con particulas cargadas emitidas desde una muestra emisora de particulas , que comprende las etapas de: formar un haz de particulas de dichas particulas cargadas y transportar las particulas entre dicha muestra emisora de particulas y una entrada de una region de medicion por medio de un sistema de lentes que tiene un eje optico sustancialmente recto , desviar el haz de particulas en al menos una primera direccion de coordenadas (x, y) perpendicular al eje optico del sistema de lentes antes de la entrada del haz de particulas en la region…

Método para medir gases y correspondiente espectrómetro de movilidad de iones.

(19/10/2016) Un método para medir sustancias gaseosas, método que comprende las etapas de: - ionización del gas de muestra en un flujo de gas , - conducción del flujo de gas ionizado a través de una cámara de medición de movilidad de iones alargada , - separación de iones (J1-n), con diferentes mobilidades de iones, en la cámara de medición , con la ayuda de un campo eléctrico transversal y, al menos, un par electrodo de medición (e1, e2, e3) dispuesto en la pared de la cámara de medición, caracterizado porque - a una distancia elegida en la dirección de flujo antes de los electrodos de medida (e1, e2, e3), el flujo de gas se divide en…

Disposición de análisis para espectrómetro de partículas.

(19/10/2016) Un método para determinar al menos un parámetro relacionado con partículas cargadas emitidas desde una muestra emisora de partículas , que comprende las etapas de: formar un haz de partículas de dichas partículas cargadas y transportar las partículas entre dicha muestra emisora de partículas y una entrada de una región de medición por medio de un sistema de lentes que tiene un eje óptico sustancialmente recto ; desviar el haz de partículas en al menos una primera dirección de coordenadas (x, y) perpendicular al eje óptico del sistema de lentes antes de la entrada del haz de partículas en la región de medición, detectar las posiciones de dichas partículas cargadas en dicha región de medición, siendo las posiciones…

Detección directa de partículas cargada con baja energía usando circuitos semiconductores de óxido metálico.

(21/01/2015) Un sistema para detectar iones, que comprende: una porción de entrada de iones; y un conjunto lineal de elementos eléctricos de detección de iones para detectar iones procedentes de la porción de entrada, estando cada elemento del conjunto lineal situado en una ubicación diferente a lo largo de un plano focal de iones , que comprende un elemento de detección capacitiva formado por dos capas de un material conductor aisladas entre sí, y detectando directamente cada elemento de detección del conjunto lineal una carga producida por un ión, que comprende adicionalmente: un amplificador de modo carga que recibe una señal indicativa de una carga y amplifica la señal de carga, teniendo el amplificador de modo…

SELECTOR DE MASAS.

(16/11/2002) SE DESCRIBE UN SELECTOR DE MASA PARA SEPARAR PARTICULAS EN UN HAZ DE PARTICULAS SEGUN SU MASA. EL SELECTOR TIENE UN PAR DE PRIMEROS ELECTRODOS QUE DEFINEN UNA PRIMERA TRAYECTORIA ALARGADA PARA EL PASO DE UN HAZ ENFOCADO DE PARTICULAS. UN PAR DE SEGUNDOS ELECTRODOS ESTAN SEPARADOS DEL PAR DE PRIMEROS ELECTRODOS Y DEFINEN UNA SEGUNDA TRAYECTORIA ALARGADA PARA PARTICULAS SEPARADAS. LA PRIMERA Y SEGUNDA TRAYECTORIAS SON PARALELAS. SE APLICA UN PRIMER IMPULSO DE CORRIENTE A TRAVES DE LOS PRIMEROS ELECTRODOS , DE FORMA QUE LAS PARTICULAS EN UNA PARTE DEL HAZ QUE ESTA EN LA PRIMERA TRAYECTORIA SE ACELEREN TRANSVERSALMENTE RESPECTO A SU DIRECCION DE MOVIMIENTO A LO LARGO DE DICHA PRIMERA TRAYECTORIA HACIA DICHA SEGUNDA TRAYECTORIA. UN SEGUNDO IMPULSO DE CORRIENTE SE APLICA A TRAVES DE LOS SEGUNDOS ELECTRODOS ,…

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