(13/09/2012) Procedimiento de caracterización de la sensibilidad a las interacciones energéticas en un componenteelectrónico , en el cual, - se pone en servicio el componente electrónico, - se excita el componente electrónico puesto así en servicio con la ayuda de un rayo de láser, - se mide un defecto de funcionamiento del componente electrónico puesto en servicio, correspondientea un valor de esta excitación, caracterizado porque - se cambian condiciones de utilización del componente, dicho de otro modo, de polarización drenajefuente del componente, y/o de señales de entrada y/o de señales de mando y/o de frecuencia y/o de temperatura y/ode carga en la salida, -…

(10/12/2010) Fuente de luz destinada a inyectar unos portadores en exceso en una oblea semiconductora iluminando una superficie de dicha oblea semiconductora , asociándose dicha fuente a un dispositivo de medición para caracterizar dicha oblea semiconductora, caracterizada porque dicha fuente comprende por lo menos un conjunto de fuentes puntuales separadas a intervalos regulares en la dirección X y en la dirección Y, de modo que dicha fuente emita un haz monocromático cuyas dimensiones sean por lo menos iguales a las de la superficie a iluminar de dicha oblea semiconductora, modulándose cada una de dichas fuentes puntuales de una forma sinusoidal mediante un modulador electrónico común , eligiéndose la distancia (d) entre dos fuentes puntuales y la distancia (D) entre dicha fuente…

(01/04/2005) Procedimiento de individualización de un elemento de circuito integrado, caracterizado porque comporta las etapas consistentes en: a) determinar a partir de un modelo del circuito, un conjunto de vectores que corresponde cada uno a un momento de funcionamiento teórico del circuito con ocasión de la aplicación de una secuencia de pruebas predeterminada, siendo los coeficientes de cada vector representativo del estado de un mismo conjunto de elementos del circuito entre los cuales figura el elemento a individualizar; b) definir a partir de una comparación de los vectores, una composición de operadores lógicos aplicados sobre dichos vectores y que permitan extraer el coeficiente que corresponde a dichos elementos a individualizar; c) realizar unas imágenes del circuito en funcionamiento en los momentos correspondientes a los vectores…

(16/10/1999) SE PRESENTA UN APARATO Y UN METODO DE MEDIDA DE LA RESISTENCIA DE UNA LAMINA, SIN CONTACTO PARA MEDIR LA RESISTENCIA DE UNA LAMINA DE UNA CAPA DESEADA DE UN PRIMER TIPO DE CONDUCTIVIDAD, FORMADA SOBRE UN SUBSTRATO DE UN TIPO DE CONDUCTIVIDAD OPUESTA. EL APARATO COMPRENDE MEDIOS PARA ESTABLECER UNA CAPACITANCIA DE UNION, MEDIOS GENERADORES DE UN FOTOVOLTAJE DE CORRIENTE ALTERNA EN LA UBICACION DEL PUNTO PARA GENERAR UN FOTOVOLTAJE DE CORRIENTE ALTERNA LATERALMENTE PROPAGADO, MEDIOS DE MONITORIZACION DE DESPLAZAMIENTO DE FASE Y ATENUACION PARA MONITORIZAR EL FOTOVOLTAJE DE CORRIENTE ALTERNA LATERALMENTE PROPAGADO, Y MEDIOS GENERADORES DE SEÑALES DE LA RESISTENCIA DE LA LAMINA SENSIBLES A LOS MEDIOS PARA ESTABLECER LA CAPACITANCIA DE UNION,…