PROCEDIMIENTO PARA SUPRIMIR INFLUENCIAS DE RADIACION EXTRAÑA EN PROCEDIMIENTOS DE MEDIDA RADIACTIVA.

PARA SUPRIMIR LA INFLUENCIA DE RADIACION EXTRAÑA EN PROCESOS DE MEDIDA RADIACTIVA,

SE DETERMINA EL PRINCIPIO Y EL FINAL DE LA RADIACION EXTRAÑA, ASI COMO EL MOMENTO CUANDO ALCANZA UN ESTADO ESTABLE. SE DETERMINA LA DIFERENCIA ENTRE LOS RESULTADOS DE MEDIDA ANTES DE QUE COMIENCE LA RADIACION EXTRAÑA Y LOS RESULTADOS DE MEDIDA DESPUES DE QUE LA RADIACION EXTRAÑA ALCANZA SU ESTADO ESTABLE, Y LA DIFERENCIA ASI DETERMINADA ES DEDUCIDA A PARTIR DE LOS RESULTADOS DE MEDIDA TANTO COMO LA RADIACION EXTRAÑA ESTE PRESENTE. DADO QUE LA DIFERENCIA ASI DETERMINADA CORRESPONDE A LA MODIFICACION DE LOS RESULTADOS DE MEDIDA ORIGINADOS MEDIANTE LA RADIACION EXTRAÑA, LOS RESULTADOS DE MEDIDA OBTENIDOS MEDIANTE DEDUCCION DE LA REFERENCIA INDICADA SON IGUALES A LOS RESULTADOS DE MEDIDA QUE SE OBTENDRIAN SI LA RADIACION EXTRAÑA ESTUVIERA AUSENTE.

Tipo: Resumen de patente/invención.

Solicitante: ENDRESS + HAUSER GMBH + CO..

Nacionalidad solicitante: Alemania.

Dirección: HAUPTSTRASSE 1 POSTFACH 1261,D-79689 MAULBURG.

Inventor/es: LEISINGER, ULRICH, NEUHAUS, JOACHIM.

Fecha de Publicación: .

Fecha Solicitud PCT: 23 de Septiembre de 1993.

Fecha Concesión Europea: 22 de Enero de 1997.

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G01T1/178 FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01T MEDIDA DE RADIACIONES NUCLEARES O DE RAYOS X (análisis de materiales por radiaciones, espectrometría de masas G01N 23/00; tubos para determinar la presencia, intensidad, densidad o energía de una radiación o de partículas H01J 47/00). › G01T 1/00 Medida de los rayos X, rayos gamma, radiaciones corpusculares o de las radiaciones cósmicas (G01T 3/00, G01T 5/00 tienen prioridad). › para la medida de una actividad específica en presencia de otras sustancias radiactivas, p. ej. de las sustancias naturales, presentes en el aire o en los líquidos tales como el agua de lluvia.
  • G01T1/40 G01T 1/00 […] › Estabilización de espectrómetros.

Países PCT: Suiza, Alemania, España, Francia, Reino Unido, Italia, Liechtensein, Países Bajos, Suecia, Oficina Europea de Patentes, Japón, Estados Unidos de América.

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